一种基于复赛谱分析的品质因子估计方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN113625341A

    公开(公告)日:2021-11-09

    申请号:CN202110892287.3

    申请日:2021-08-04

    Abstract: 本申请涉及一种基于复赛谱分析的品质因子估计方法、装置及系统,属于地震勘探技术的领域,包括获取地震记录;对获取的地震记录进行时频谱分析,得到地震记录的时频谱;在获得的地震记录的时频谱的基础上进行复赛谱分析,得到地震记录的复赛谱;设计低通滤波器,获取地震记录复赛谱域截断地震子波,消除反射系数影响;对复赛谱域截断地震子波进行频谱分析,获取截断地震子波的对数振幅谱;根据截断地震子波的对数振幅谱估计品质因子。本申请在对地震记录进行时频谱分析的基础上,通过复赛谱分析和低通滤波获取复赛谱域截断子波,消除品质因子估计中反射系数序列对地震子波求解的影响,从而提高Q值的计算精度,对中深层勘探具有重要的现实意义。

    一种基于双谱谱比对数的品质因子估计方法及系统

    公开(公告)号:CN112099083B

    公开(公告)日:2023-10-13

    申请号:CN202010870741.0

    申请日:2020-08-26

    Abstract: 本发明实施例提供一种基于双谱谱比对数的品质因子估计方法及系统,该方法包括:获取零偏垂直地震剖面全波场数据,并对所述零偏垂直地震剖面全波场数据进行波场分离,获取下行波场;在所述下行波场中求取下行直达波,并计算含噪地震波的双谱;计算相邻道所述双谱谱比的对数,并基于相邻道所述双谱谱比的对数,估计层间品质因子。本发明实施例通过引入高阶统计分析实现有效信号地双谱估计,进而通过双谱谱比对数地平面拟合实现品质因子地求取,从而削弱随机噪声地影响,提高品质因子估计的稳定性及精度。

    基于正交方位属性差异融合的各向异性检测方法及系统

    公开(公告)号:CN115327615A

    公开(公告)日:2022-11-11

    申请号:CN202210996012.9

    申请日:2022-08-18

    Inventor: 戚鹏飞

    Abstract: 本发明提供一种基于正交方位属性差异融合的各向异性检测方法及系统,该方法包括:根据目标地层的地震方位道集,获取不同地震波入射角和地震测线方位角处的多个地震属性;通过所述地震波入射角、所述地震测线方位角和所述多个地震属性,得到各个地震属性对应的最大正交方位差异值和正交方位角;根据所述正交方位角,确定所述目标地层的各向异性方向;对多个所述最大正交方位差异值进行加权融合处理,得到所述目标地层的各向异性强度,以根据所述各向异性方向和所述各向异性强度,得到所述目标地层的各向异性检测结果。本发明在减少计算量的同时,提高了计算精度,实现地层各向异性的稳定求解。

    基于正交方位属性差异融合的各向异性检测方法及系统

    公开(公告)号:CN115327615B

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202210996012.9

    申请日:2022-08-18

    Inventor: 戚鹏飞

    Abstract: 本发明提供一种基于正交方位属性差异融合的各向异性检测方法及系统,该方法包括:根据目标地层的地震方位道集,获取不同地震波入射角和地震测线方位角处的多个地震属性;通过所述地震波入射角、所述地震测线方位角和所述多个地震属性,得到各个地震属性对应的最大正交方位差异值和正交方位角;根据所述正交方位角,确定所述目标地层的各向异性方向;对多个所述最大正交方位差异值进行加权融合处理,得到所述目标地层的各向异性强度,以根据所述各向异性方向和所述各向异性强度,得到所述目标地层的各向异性检测结果。本发明在减少计算量的同时,提高了计算精度,实现地层各向异性的稳定求解。

    一种基于双谱谱比对数的品质因子估计方法及系统

    公开(公告)号:CN112099083A

    公开(公告)日:2020-12-18

    申请号:CN202010870741.0

    申请日:2020-08-26

    Abstract: 本发明实施例提供一种基于双谱谱比对数的品质因子估计方法及系统,该方法包括:获取零偏垂直地震剖面全波场数据,并对所述零偏垂直地震剖面全波场数据进行波场分离,获取下行波场;在所述下行波场中求取下行直达波,并计算含噪地震波的双谱;计算相邻道所述双谱谱比的对数,并基于相邻道所述双谱谱比的对数,估计层间品质因子。本发明实施例通过引入高阶统计分析实现有效信号地双谱估计,进而通过双谱谱比对数地平面拟合实现品质因子地求取,从而削弱随机噪声地影响,提高品质因子估计的稳定性及精度。

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