公开(公告)号：CN110231977A

公开(公告)日：2019-09-13

申请号：CN201810179726.4

申请日：2018-03-05

Applicant: 中兴通讯股份有限公司

Inventor： 张玲东 ,  胡荣亮 ,  孔鹏

IPC: G06F9/46

Abstract: 本发明提供了一种数据库的处理方法、装置、存储介质及电子装置，该方法包括：接收用于请求对数据库中的预定数据进行处理的处理请求；确定用于对所述预定数据进行处理的预定中央处理器CPU，其中，所述数据库中包括两个以上数据分片，不同的数据分片中包括的数据不同，且不同的数据分片对应的用于对数据分片中的数据进行处理的处理CPU不同；指示所述预定CPU按照所述处理请求对所述预定数据进行处理。通过本发明，解决了相关技术中存在的在数据库的多线程并发控制中随着CPU数目的增多，访问冲突越来越严重，从而造成大量的CPU资源浪费，增加事务处理的时延，进而降低业务处理能力的问题。

公开(公告)号：CN100392414C

公开(公告)日：2008-06-04

申请号：CN200510034181.0

申请日：2005-04-15

Applicant: 中兴通讯股份有限公司

Inventor： 于克泳 ,  马光明 ,  胡荣亮 ,  邵国 ,  刘嵘

IPC: G01R31/00 ,  G01R29/08

CPC classification number: G01R31/002

Abstract: 一种电子设备内电磁辐射源的测量方法和装置，方法为：首先，在所有器件工作时，进行EMC辐射发射测试；然后，仅允许其中一个功能单元工作，进行EMC辐射发射测试，得到该功能单元产生的辐射发射；再分别仅允许一个功能单元中的一个器件工作，进行EMC辐射发射测试，分别得到不同器件的辐射电磁场强度曲线；通过上述方法可以得到每一个功能单元和每一个功能单元内的器件的辐射电磁场强度曲线；最后分析数据。装置包括控制界面单元、通讯接口单元、核心控制单元、供电控制单元、器件控制单元。本发明不但可以得到整个电子设备的辐射电磁场强度曲线，还可以达到快速定位电磁辐射源的目的。

公开(公告)号：CN1743856A

公开(公告)日：2006-03-08

申请号：CN200510034181.0

申请日：2005-04-15

Applicant: 中兴通讯股份有限公司

Inventor： 于克泳 ,  马光明 ,  胡荣亮 ,  邵国 ,  刘嵘

IPC: G01R31/00 ,  G01R29/08

CPC classification number: G01R31/002

Abstract: 一种电子设备内电磁辐射源的测量方法和装置，方法为：首先，在所有器件工作时，进行EMC辐射发射测试；然后，仅允许其中一个功能单元工作，进行EMC辐射发射测试，得到该功能单元产生的辐射发射；再分别仅允许一个功能单元中的一个器件工作，进行EMC辐射发射测试，分别得到不同器件的辐射电磁场强度曲线；通过上述方法可以得到每一个功能单元和每一个功能单元内的器件的辐射电磁场强度曲线；最后分析数据。装置包括控制界面单元、通讯接口单元、核心控制单元、供电控制单元、器件控制单元。本发明不但可以得到整个电子设备的辐射电磁场强度曲线，还可以达到快速定位电磁辐射源的目的。