公开(公告)号：CN118111377A

公开(公告)日：2024-05-31

申请号：CN202211482264.6

申请日：2022-11-24

Applicant: 中兴通讯股份有限公司

Inventor： 马军华 ,  李丹霞 ,  王峰 ,  谢丰帅 ,  张峻宁 ,  罗志钢

IPC: G01B21/28 ,  G01B21/08 ,  G01B21/02 ,  G01D21/02 ,  G01N33/00 ,  G01N23/02 ,  G01R31/00

Abstract: 本发明实施例提供一种锡膏检测阈值调整方法、设备及存储介质，属于工业大数据技术领域。该方法包括：获取锡膏检测数据，锡膏检测数据是基于当前锡膏检测阈值对多个电子产品进行锡膏检测时生成的，锡膏检测数据包括各电子产品的锡膏检测值和多个电子产品的次品率和锡膏检测错误率；根据各电子产品的锡膏检测值，生成多个电子产品的锡膏检测值分布信息；根据次品率和锡膏检测错误率，从锡膏检测值分布信息中确定目标锡膏检测值范围；根据目标锡膏检测值范围，对当前锡膏检测阈值进行调整。本方案能够准确地得到检测电子产品的锡膏检测的目标锡膏检测值范围，并基于该目标锡膏检测值范围对当前锡膏检测阈值进行调整，极大地提高锡膏检测的准确性。