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公开(公告)号：CN116112071A
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202111319669.3
申请日：2021-11-09
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
IPC: H04B10/077
Abstract: 本发明公开了一种应用于OTN网络的备用光通道性能检测方法及性能检测系统，OTN网络包括本地节点、端节点和连接本地节点与端节点的待测光路，在可达待测光路的空闲端口配置光源发生器，光源发生器包括光放大器、光滤波器、可调谐激光器和耦合器，光放大器与光滤波器级联后通过耦合器与可调谐激光器耦合；配置检测光源，检测光源包括待测波长和填充波长，待测波长由可调谐激光器产生，填充波长由光放大器和光滤波器产生；调用待测光路中的光标签检测点对待测波长的光功率进行测量，以得到待测波长对应的备用光通道的光性能。能够检测出光纤光路的功率，从而获取光通道的光性能参数。
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