一种用于半导体外延系统的基座

    公开(公告)号:CN102347258B

    公开(公告)日:2013-01-09

    申请号:CN201110276973.4

    申请日:2011-09-19

    Abstract: 本发明公开了一种用于半导体外延系统的基座,机械传动方式实现基座的公转、气动旋转方式实现衬底的自转,并结合机械手实现基座整体的升降。本发明包含有大盘、小盘,大盘内部设有辐射状的内部气路通道,大盘的内部气路通道连通小盘,支撑杆内的内部气道连通大盘内部辐射状的内部气路通道,支撑杆中部设有金属法兰,金属法兰的中心设有磁流体组件,撑杆延伸出金属法兰的部分固定有一从动轮,从动轮一侧等高的位置设有主动轮,靠近支撑杆尾端的位置设有轴承组件,支撑杆的尾端设有进气组件,进气组件由轴承组件、B套管和气体入口组成。本发明的设计可以节约反应的原料、提高薄膜的均匀性;基座结构简单、可靠。

    狭缝式多气体输运喷头结构

    公开(公告)号:CN102154691B

    公开(公告)日:2012-11-21

    申请号:CN201110142242.0

    申请日:2011-05-30

    Abstract: 本发明公开了一种狭缝式多气体输运喷头结构,包括喷头,喷头上设有若干进气管道、若干辅助气路管道、第一匀气孔板、第二匀气孔板及导流板,进气管道管壁与辅助气路管道空间连通,第一匀气孔板外侧设有若干相互平行的进气管道,第一匀气孔板内侧相邻进气管道之间设有与进气管道平行的导流板,所述导流板连接第一匀气孔板及第二匀气孔板后向下延伸。本发明能有效减少预反应的发生,提高反应效率,且当喷头的长度增加时,增加对应的辅助气路管道的数量,实现气流的浓度和速度均匀分布,从而满足大规模生产设备的需要。

    一种退火装置和方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102094248A

    公开(公告)日:2011-06-15

    申请号:CN201010618011.8

    申请日:2010-12-31

    Abstract: 本发明涉及一种能依据降温速率、停留时间、移动速度等进行退火控制的装置和方法,特别解决了目前不能根据GaN衬底温度为依据的自动控制的问题,由此可以把温度作定量,而对不同片厚度的GaN作退火工艺研究及其稳定退火工艺。本发明采用闭环控制,实现了自动判断、降温方式可调、退火控制菜单可编和实时存储数据功能。本发明用于半导体行业中的退火工艺的自动化控制,操作提示、形象化显示、暂停取消和显示当时运行状态等功能均具备。可以根据不同的需要而制定专用程序。

    一种退火装置和方法
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102094248B

    公开(公告)日:2012-07-11

    申请号:CN201010618011.8

    申请日:2010-12-31

    Abstract: 本发明涉及一种能依据降温速率、停留时间、移动速度等进行退火控制的装置和方法,特别解决了目前不能根据GaN衬底温度为依据的自动控制的问题,由此可以把温度作定量,而对不同片厚度的GaN作退火工艺研究及其稳定退火工艺。本发明采用闭环控制,实现了自动判断、降温方式可调、退火控制菜单可编和实时存储数据功能。本发明用于半导体行业中的退火工艺的自动化控制,操作提示、形象化显示、暂停取消和显示当时运行状态等功能均具备。可以根据不同的需要而制定专用程序。

    一种多片大尺寸氢化物气相外延方法和装置

    公开(公告)号:CN102108547B

    公开(公告)日:2012-06-13

    申请号:CN201010617286.X

    申请日:2010-12-31

    Abstract: 本发明提供一种采用氢化物气相外延(HVPE)技术同时在多片或大尺寸衬底上生长GaN材料的方法,同时提供可以实现该方法的装置,特别是用于提供大面积生长区域的喷口。在该装置上应用本发明提供的方法,可以一次同时生长5片以上(视恒温区范围及喷口大小而定)2英寸GaN衬底或者一片以上4英寸甚至6英寸衬底。喷头设计使得氯化镓GaCl和氨NH3在喷口处互不混合,减少喷口处的预反应,防止管路堵塞,仅在衬底表面混合,形成均匀的混合层,提高GaN产品的厚度均匀性和质量。

    一种高反应率反应室
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102212799A

    公开(公告)日:2011-10-12

    申请号:CN201110142250.5

    申请日:2011-05-30

    Abstract: 本发明公开了一种高反应率反应室,包括室体,室体具有顶壁、底壁及连接顶壁与底壁的两侧壁,顶壁内侧面上设有复数上挡板,底壁内侧面上设有复数下挡板,上挡板与下挡板向内的顶端上下相互交叉,上挡板与下挡板之间平行的间隔排布,室体上连接有输入管道及输出管道。本发明通过在室体内设置若干挡板,使气体多次接触金属源表面,发生多次反应,从而提高了反应效率。

    狭缝式多气体输运喷头结构

    公开(公告)号:CN102154691A

    公开(公告)日:2011-08-17

    申请号:CN201110142242.0

    申请日:2011-05-30

    Abstract: 本发明公开了一种狭缝式多气体输运喷头结构,包括喷头,喷头上设有若干进气管道、若干辅助气路管道、第一匀气孔板、第二匀气孔板及导流板,进气管道管壁与辅助气路管道空间连通,第一匀气孔板外侧设有若干相互平行的进气管道,第一匀气孔板内侧相邻进气管道之间设有与进气管道平行的导流板,所述导流板连接第一匀气孔板及第二匀气孔板后向下延伸。本发明能有效减少预反应的发生,提高反应效率,且当喷头的长度增加时,增加对应的辅助气路管道的数量,实现气流的浓度和速度均匀分布,从而满足大规模生产设备的需要。

    一种用于半导体外延系统的基座

    公开(公告)号:CN102347258A

    公开(公告)日:2012-02-08

    申请号:CN201110276973.4

    申请日:2011-09-19

    Abstract: 本发明公开了一种用于半导体外延系统的基座,机械传动方式实现基座的公转、气动旋转方式实现衬底的自转,并结合机械手实现基座整体的升降。本发明包含有大盘、小盘,大盘内部设有辐射状的内部气路通道,大盘的内部气路通道连通小盘,支撑杆内的内部气道连通大盘内部辐射状的内部气路通道,支撑杆中部设有金属法兰,金属法兰的中心设有磁流体组件,撑杆延伸出金属法兰的部分固定有一从动轮,从动轮一侧等高的位置设有主动轮,靠近支撑杆尾端的位置设有轴承组件,支撑杆的尾端设有进气组件,进气组件由轴承组件、B套管和气体入口组成。本发明的设计可以节约反应的原料、提高薄膜的均匀性;基座结构简单、可靠。

    一种半导体生长设备独立的金属源系统

    公开(公告)号:CN102127808A

    公开(公告)日:2011-07-20

    申请号:CN201010617807.1

    申请日:2010-12-31

    Abstract: 本发明提供一种氮化镓基材料生长所需要的金属源气体,利用金属的三氯化物作为源材料,通过载气输运并混合反应得到所需的源气体。本发明将一定量金属的三氯化物放置于石英腔加热,并以氢气、氮气、惰性气体或者它们的混合气体作为载气,调节载气的流量即可获得需要的三氯化物流量,转化气体后输运至材料生长系统,生长氮化镓基半导体材料。本发明的外置的金属源系统可以减小半导体生长系统的反应室体积,获得均匀的流场以及温场分布,降低了设备的设计与维护成本。

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