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公开(公告)号：CN101464210B
公开(公告)日：2010-11-17
申请号：CN200810220578.2
申请日：2008-12-30
Applicant: 东莞宏威数码机械有限公司 , 清华大学深圳研究生院
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种光栅检测仪，安装于光谱仪发出的准直单色出射光束后，所述光栅检测仪包括光栅、光栅旋转台及光能探测器，光栅可旋转地安装于光栅旋转台上，光栅旋转台位于所述光谱仪与光能探测器之间，其中，在光能探测器与光栅之间还设有透镜，所述透镜满足下述公式：γ为透镜的角放大率，d为光栅的光栅常数，λ为光谱仪发出的准直单色出射光束的波长，t为透镜到光能探测器入口的距离，d1为光能探测器入口的直径。具备本发明上述透镜的光栅检测仪一方面能使衍射光束之间不存在互相重叠；另一方面，光能探测器入口只能让一束衍射光束通过，另本发明比较适合配合通用光谱仪使用，具有普遍的适用性，且具有较高的检测精度。
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公开(公告)号：CN101105951A
公开(公告)日：2008-01-16
申请号：CN200710075381.X
申请日：2007-08-01
Applicant: 清华大学深圳研究生院 , 东莞宏威数码机械有限公司
IPC: G11B7/08
Abstract: 本发明公开了一种光学头中光学系统的优化方法，属于光存储技术领域。本发明包括以下步骤：A.根据光学系统的初步设计结果模拟光路，基于传统像差理论，采用第一像质评价函数，对光学系统进行优化，达到衍射极限；B.在满足基于像差理论的优化极限下，以光学系统中光路元件状态检测的灵敏度为优化的目标二次优化光学系统。本发明由于在采用第一像质评价函数，对光学系统进行优化，达到衍射极限后；再以光学系统中光路元件状态检测的灵敏度为优化的目标二次优化光学系统。所以可以使光学头检测灵敏度满足控制系统要求，提高不同光学头中光学系统的设计与优化效率。
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公开(公告)号：CN101004926A
公开(公告)日：2007-07-25
申请号：CN200610061769.X
申请日：2006-07-19
Applicant: 清华大学深圳研究生院 , 东莞宏威数码机械有限公司
Abstract: 本发明公开了一种激光读取头信号拾取光路结构，包括来自盘片的反射光束、单透镜、柱面镜、PDIC保护玻璃，其特征在于：在单透镜与柱面镜之间设有用以增加象散效果的平板玻璃。本发明由于在单透镜与柱面镜之间设有用以增加象散效果的平板玻璃，因此降低柱面镜的制造难度，减少成本，并且提高PDIC接收到的光信号的精度。
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公开(公告)号：CN101004921B
公开(公告)日：2010-09-29
申请号：CN200610061768.5
申请日：2006-07-19
Applicant: 清华大学深圳研究生院 , 东莞宏威数码机械有限公司
Abstract: 一种涉及光学的光学读取方法和系统，该系统包括激光源、光源处理单元、光学信号处理单元和光学盘片，所述的光源处理单元对激光源进行光学能量处理，产生相关的激光光束，激光光学信号处理单元采用该激光光束完成对光学盘片中的信息读取，其特征在于：所述的激光源发射蓝光波段激光光束，该方法为：A、发射蓝光波段激光光束，B、对所述激光光束能量处理，产生中心强度为圆形的平行光束，C、采用所述平行光束的圆偏振光对光学盘片中的坑道信号数据进行聚光采集，D、将光学盘片表面坑道反射的圆偏振光转化为S偏振光，进行相应读取，本发明解决现有技术中光学盘片容量受限的问题，用于提高光学盘片的容量。
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公开(公告)号：CN100530380C
公开(公告)日：2009-08-19
申请号：CN200710075394.7
申请日：2007-08-02
Applicant: 清华大学深圳研究生院 , 东莞宏威数码机械有限公司
IPC: G11B7/135
Abstract: 本发明公开了一种用于刻写光学头的光学系统，属于光存储技术领域。本发明包括：第一激光器、第二激光器、光栅、偏振分光单元、光学信号采集模块、光电信号拾取模块，从第一激光器、第二激光器发出的光束通过光栅到达偏振分光单元组合成P偏振光，P偏振光通过光学信号采集模块到达盘片，盘片反射光再经过光学信号采集模块到达偏振分光单元，从偏振分光单元出来的偏振光到达光电信号拾取模块上，其特征在于：所述光栅是多阵列光栅。本发明由于在两个激光器前设有多阵列光栅。所以不仅具有信道跟踪作用，而且可以抑制聚焦光斑旁瓣、提高中心强度，从而提高光盘信息符号的读取质量，减少噪声。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100530379C
公开(公告)日：2009-08-19
申请号：CN200610061769.X
申请日：2006-07-19
Applicant: 清华大学深圳研究生院 , 东莞宏威数码机械有限公司
Abstract: 本发明公开了一种激光读取头信号拾取光路结构，其反射光路包括来自盘片的反射光束、单透镜、柱面镜、PDIC保护玻璃，其特征在于：来自盘片的反射光束为蓝光波段激光；在单透镜与柱面镜之间设有用以产生象散的平板玻璃。本发明由于在单透镜与柱面镜之间设有用以产生象散的平板玻璃，因此降低柱面镜的制造难度，减少成本，并且提高PDIC接收到的光信号的精度。
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公开(公告)号：CN101110233A
公开(公告)日：2008-01-23
申请号：CN200710075394.7
申请日：2007-08-02
Applicant: 清华大学深圳研究生院 , 东莞宏威数码机械有限公司
IPC: G11B7/135
Abstract: 本发明公开了一种用于刻写光学头的光学系统，属于光存储技术领域。本发明包括：第一激光器、第二激光器、光栅、偏振分光单元、光学信号采集模块、光电信号拾取模块，从第一激光器、第二激光器发出的光束通过光栅到达偏振分光单元组合成P偏振光，P偏振光通过光学信号采集模块到达盘片，盘片反射光再经过光学信号采集模块到达偏振分光单元，从偏振分光单元出来的偏振光到达光电信号拾取模块上，其特征在于：所述光栅是多阵列光栅。本发明由于在两个激光器前设有多阵列光栅。所以不仅具有信道跟踪作用，而且可以抑制聚焦光斑旁瓣、提高中心强度，从而提高光盘信息符号的读取质量，减少噪声。
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公开(公告)号：CN101464210A
公开(公告)日：2009-06-24
申请号：CN200810220578.2
申请日：2008-12-30
Applicant: 东莞宏威数码机械有限公司 , 清华大学深圳研究生院
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种光栅检测仪，安装于光谱仪发出的准直单色出射光束后，所述光栅检测仪包括光栅、光栅旋转台及光能探测器，光栅可旋转地安装于光栅旋转台上，光栅旋转台位于所述光谱仪与光能探测器之间，其中，在光能探测器与光栅之间还设有透镜，所述透镜满足下述公式：γ≥d×d1/λ×t，γ为透镜的角放大率，d为光栅的光栅常数，λ为光谱仪发出的准直单色出射光束的波长，t为透镜到光能探测器入口的距离，d1为光能探测器入口的直径。具备本发明上述透镜的光栅检测仪一方面能使衍射光束之间不存在互相重叠；另一方面，光能探测器入口只能让一束衍射光束通过，另本比较适合配合通用光谱仪使用，具有普遍的适用性，且具有较高的检测精度。
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公开(公告)号：CN101158618A
公开(公告)日：2008-04-09
申请号：CN200710124330.1
申请日：2007-11-01
Applicant: 清华大学深圳研究生院 , 东莞宏威数码机械有限公司
Abstract: 本发明提供一种光学头力矩器测试仪，包括力矩器承载台、功率驱动电路、激光位移传感器和数据采集装置。本发明还提供测试光学头力矩器的物镜高度、静态径向倾角、聚焦方向运动范围和循迹方向运动范围的方法，包括测试方法。采用本发明光学头力矩器测试仪及测试方法，可以方便快捷地进行光学头力矩器多项特性参数的测试，快速准确；本发明光学头力矩器测试仪成本低廉，只有现有技术中的力矩器特性测试系统的十分之一；本发明光学头力矩器测试仪便于安装在生产现场，有利于在力矩器生产现场进行在线检测。
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公开(公告)号：CN101083102A
公开(公告)日：2007-12-05
申请号：CN200710074150.7
申请日：2007-04-24
Applicant: 清华大学深圳研究生院 , 东莞宏威数码机械有限公司
Abstract: 本发明公开一种光盘驱动器主轴转速检测装置，包括：将转速信号转换为电脉冲的检测元件，和将检测元件输出的电脉冲转换成转速信息的后续处理电路，其中：所述的检测元件为磁电式转速传感器。本发明由于在采用了价格较为便宜的磁电式转速传感器对光盘驱动器主轴的转速进行检测，将光盘驱动器的主轴转速转换为可处理的电信号，能很好的测量出光盘驱动器的转速信息，在确保检测精度的同时降低了光盘驱动器主轴转速检测装置的成本。
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