公开(公告)号：CN107800434A

公开(公告)日：2018-03-13

申请号：CN201710902624.6

申请日：2017-09-29

Applicant: 东南大学 ,  东南大学-无锡集成电路技术研究所

Inventor： 黄成 ,  陈启蒙 ,  郭展鸿 ,  冯雪 ,  张轩

IPC: H03M1/10

CPC classification number: H03M1/1071 ,  H03M2201/657

Abstract: 本发明公开了一种基于参数提取的快速ADC测试方法，即利用静态码值，提取得到用来进行频谱分析的少量静态码值，经过增益误差消除处理后，通过频谱分析估算得到动态参数值；在参数提取测试算法基础之上，重新优化了ADC测试结构，即采用优化的直方图与参数提取测试算法相结合的测试架构；改进的直方图测试方法即利用移动平均滤波器法，通过使用与传统测试相比更少的采样点数得到同样精度的静态参数。与传统ADC测试方法相比，本发明所提ADC测试架构，即利用一次测试采集的静态码值，同时用于通过优化直方图方法计算静态参数和利用参数提取算法估算动态参数，能够在确保计算精度的前提下，大大优化测试时间。