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公开(公告)号：CN111780695B
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202010639368.8
申请日：2020-07-06
Applicant: 东南大学
Abstract: 本发明公开了一种用DVC变形算法来评价CT尺寸测量精度的方法，具体为：根据要进行CT尺寸测量的待测样品的材质和结构来确定用于尺寸测量精度评价的标准样品；在确定的CT测试条件下，用CT设备对标准样品连续进行两次扫描，获得相同测试条件下的两套三维CT图像数据；对获得的两套三维CT图像数据进行DVC计算，获得三维全场变形数据，变形数据中三个方向的应变，记为ex，ey，ez；对获得的全场变形数据进行统计分析，得到各个应变的均值和标准差，CT尺寸测量的精度与标准差呈负相关，即标准差越小，测量精度越高；标准差越大，测量精度越低。本发明方法能够量化各个影响因素对CT尺寸测量造成的影响。
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公开(公告)号：CN111780695A
公开(公告)日：2020-10-16
申请号：CN202010639368.8
申请日：2020-07-06
Applicant: 东南大学
Abstract: 本发明公开了一种用DVC变形算法来评价CT尺寸测量精度的方法，具体为：根据要进行CT尺寸测量的待测样品的材质和结构来确定用于尺寸测量精度评价的标准样品；在确定的CT测试条件下，用CT设备对标准样品连续进行两次扫描，获得相同测试条件下的两套三维CT图像数据；对获得的两套三维CT图像数据进行DVC计算，获得三维全场变形数据，变形数据中三个方向的应变，记为ex，ey，ez；对获得的全场变形数据进行统计分析，得到各个应变的均值和标准差，CT尺寸测量的精度与标准差呈负相关，即标准差越小，测量精度越高；标准差越大，测量精度越低。本发明方法能够量化各个影响因素对CT尺寸测量造成的影响。
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