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发明公开
一种采用两副相同圆极化天线的增益的测量方法审中-实审

公开(公告)号：CN117192230A

公开(公告)日：2023-12-08

申请号：CN202311155462.6

申请日：2023-09-08

Applicant: 东南大学

Inventor： 陈宏泰 , 高盛 , 李顺礼 , 赵洪新 , 殷晓星

IPC: G01R29/10 , G01R27/28

Abstract: 本发明提供了一种采用两副相同圆极化天线的增益的测量方法，使用了结构和性能相同的第一待测圆极化天线和第二待测圆极化天线，矢量网络分析仪和线缆。测量环境为微波暗室。将第一待测圆极化天线和第二待测圆极化天线以远场距离安装；矢量网络分析仪经线缆连接到第一待测圆极化天线和第二待测圆极化天线，其中第二待测圆极化天线作为接收天线，在旋转0度和旋转90度时测量复数传输系数，据此计算第一待测圆极化天线和第二待测圆极化天线的增益、轴比和旋向测量值。该方法无需辅助测量天线，显著降低成本；只需两次测量，提升了测量效率。

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