公开(公告)号：CN103076559A

公开(公告)日：2013-05-01

申请号：CN201210590052.X

申请日：2012-12-29

Applicant: 东南大学

Inventor： 蔡志匡 ,  单伟伟 ,  刘婷婷 ,  袁强强 ,  刘新宁 ,  杨军

IPC: G01R31/3185

Abstract: 本发明公开了一种针对扫描测试中移位功耗的优化方法，在基本的测试流程的基础上，增加了功耗信息提取、功耗敏感单元选取和插入测试逻辑三个步骤；本发明提出的方法可以大幅度减少测试过程中的移位功耗，同时不会增加测试时间，也不会影响测试覆盖率，不需要测试设计流程的改变，而且容易实现。

公开(公告)号：CN103076559B

公开(公告)日：2015-02-04

申请号：CN201210590052.X

申请日：2012-12-29

Applicant: 东南大学

Inventor： 蔡志匡 ,  单伟伟 ,  刘婷婷 ,  袁强强 ,  刘新宁 ,  杨军

IPC: G01R31/3185

Abstract: 本发明公开了一种针对扫描测试中移位功耗的优化方法，在基本的测试流程的基础上，增加了功耗信息提取、功耗敏感单元选取和插入测试逻辑三个步骤；本发明提出的方法可以大幅度减少测试过程中的移位功耗，同时不会增加测试时间，也不会影响测试覆盖率，不需要测试设计流程的改变，而且容易实现。