公开(公告)号：CN117350968A

公开(公告)日：2024-01-05

申请号：CN202311301701.4

申请日：2023-10-09

Applicant: 东华大学 ,  上海海立(集团)股份有限公司

Inventor： 汪俊亮 ,  王美萱 ,  张洁 ,  陆峻青 ,  皮青雄 ,  张家新

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/73 ,  G06T7/80 ,  G06V10/25 ,  G06V10/764 ,  G06V10/774 ,  G06V10/82 ,  G06N3/045 ,  G06N3/08 ,  G01N21/88

Abstract: 本发明提供了一种微小的产品表面缺陷检测方法，涉及产品表面缺陷检测技术领域。所述检测装置包括工业相机、补光灯、支架、传感器、上位机。所述检测方法是基于Swin‑YOLOv5的微小缺陷检测方法，通过引入融合微小缺陷局部上下文信息的特征提取模块，提高检测网络针对微小缺陷的弱特征信息的表征能力，并且利用目标框与预测框各自的宽度和高度误差，设计适用于微小缺陷的定位误差损失，提高微小缺陷锚框损失回归效率和模型检测速度。通过实际验证了所述方法能够高效准确地检测到产品表面的微小缺陷，提高了微小缺陷检测的精准度与效率，具有很高的应用价值和经济效益。