公开(公告)号：CN105547454A

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201510900913.3

申请日：2015-12-08

Applicant: 东华大学

Inventor： 尚建华 ,  贺岩 ,  程小劲 ,  刘玉英

IPC: G01H9/00

CPC classification number: G01H9/00

Abstract: 本发明涉及一种快速扫描式激光多普勒振动测量系统，包括激光多普勒振动测量单元和探测光跟踪扫描控制单元，所述激光多普勒振动测量单元包括光纤激光器、相干检测光学链路、第一望远镜、平衡探测器、数据采集卡和正交微分鉴频模块；所述探测光跟踪扫描控制单元包括照明激光器、透镜组、振镜、第二望远镜、位置传感器和位移控制器。本发明能够适用于大面型复合材料及其制品的快速检测，提高无损检测的效率，增强系统的适用性。

公开(公告)号：CN105547454B

公开(公告)日：2018-09-25

申请号：CN201510900913.3

申请日：2015-12-08

Applicant: 东华大学

Inventor： 尚建华 ,  贺岩 ,  程小劲 ,  刘玉英

IPC: G01H9/00

Abstract: 本发明涉及一种快速扫描式激光多普勒振动测量系统，包括激光多普勒振动测量单元和探测光跟踪扫描控制单元，所述激光多普勒振动测量单元包括光纤激光器、相干检测光学链路、第一望远镜、平衡探测器、数据采集卡和正交微分鉴频模块；所述探测光跟踪扫描控制单元包括照明激光器、透镜组、振镜、第二望远镜、位置传感器和位移控制器。本发明能够适用于大面型复合材料及其制品的快速检测，提高无损检测的效率，增强系统的适用性。

公开(公告)号：CN107806841A

公开(公告)日：2018-03-16

申请号：CN201710986296.2

申请日：2017-10-20

Applicant: 东华大学

Inventor： 尚建华 ,  程小劲 ,  黄燕杰

IPC: G01B11/30 ,  G01B9/06

CPC classification number: G01B11/303 ,  G01B9/06 ,  G01B11/306

Abstract: 本发明涉及一种复合材料密封件表面粗糙度检测用光纤型零差干涉系统，包括待测密封件装调定位模块、光学干涉检测模块和密封件表面粗糙度信息提取模块；所述待测密封件装调定位模块用于对待测密封件进行定位和调节，使得所述光学干涉检测模块能够检测到待测密封件上的各个测量点；所述光学干涉检测模块用于对待测密封件上的各个测量点进行检测，以得到携带有待测密封件表面粗糙度特征信息；所述密封件表面粗糙度信息提取模块用于提取待测密封件表面粗糙度特征信息，以获得待测密封件表面的粗糙度分布情况及其微观形貌图。本发明降低了系统的复杂程度和调试难度，更有利于复合材料密封件的质量监控。