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发明公开
一种印花与提花面料的疵点检测方法无效

公开(公告)号：CN112561892A

公开(公告)日：2021-03-26

申请号：CN202011525161.4

申请日：2020-12-22

Applicant: 东华大学

Inventor： 张洁 , 汪俊亮 , 寇恩溥 , 秦子晋 , 徐楚桥 , 朱子洵 , 高鹏捷 , 陈泰芳

IPC: G06T7/00 , G06T7/194

Abstract: 本发明要解决的技术问题是：传统印花与提花面料疵点检测采用人工检测方法。为了解决上述技术问题，本发明的技术方案是提供了一种印花与提花面料的疵点检测方法，其特征在于，通过将模板花纹图案与待检面料图案进行特征提取，将高维图像数据转化为低维的特征向量，通过特征向量相减的方式实现模板花纹背景与疵点的分离。本发明针对印花或提花图案周期性出现的特点，设计了一种面向印花与提花面料的疵点的特征相减机制与检测方法，可以准确、高效地检测出印花与提花面料的表面疵点。

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