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公开(公告)号:CN102703873B
公开(公告)日:2013-11-13
申请号:CN201210180294.1
申请日:2012-06-02
Applicant: 东华大学
Abstract: 本发明提供了一种极窄回滞曲线宽度高电阻温度系数VO2薄膜制备方法,其特征在于:该方法分为以下2个步骤,步骤1:利用磁控溅射镀膜仪的金属钒靶对Al2O3基片进行直流溅射,制备金属钒薄膜;步骤2:将金属钒薄膜置于快速退火炉内进行氧化处理,再将氧化后的金属钒薄膜取出并置于空气中自然冷却,获得多晶VO2薄膜。本发明提供的极窄回滞曲线宽度高电阻温度系数VO2薄膜制备方法简单易行、重复性好,通过扫描电子显微镜和四探针测试仪分析表明,所制备的VO2薄膜具有纳米片状结构,其回滞曲线宽度仅有0.4℃左右,几乎重合,且具有很高的TCR。
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公开(公告)号:CN102703873A
公开(公告)日:2012-10-03
申请号:CN201210180294.1
申请日:2012-06-02
Applicant: 东华大学
Abstract: 本发明提供了一种极窄回滞曲线宽度高电阻温度系数VO2薄膜制备方法,其特征在于:该方法分为以下2个步骤,步骤1:利用磁控溅射镀膜仪的金属钒靶对Al2O3基片进行直流溅射,制备金属钒薄膜;步骤2:将金属钒薄膜置于快速退火炉内进行氧化处理,再将氧化后的金属钒薄膜取出并置于空气中自然冷却,获得多晶VO2薄膜。本发明提供的极窄回滞曲线宽度高电阻温度系数VO2薄膜制备方法简单易行、重复性好,通过扫描电子显微镜和四探针测试仪分析表明,所制备的VO2薄膜具有纳米片状结构,其回滞曲线宽度仅有0.4℃左右,几乎重合,且具有很高的TCR。
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