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公开(公告)号：CN109034262B
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN201810915378.2
申请日：2018-08-13
Applicant: 东北大学
Abstract: 本发明提出一种X射线定向仪缺陷识别的批量处理方法，属于单晶材料加工领域，提出了离线批量式单晶晶体缺陷检测方法，设计了单晶晶体回摆曲线的特征向量，以抽象出曲线特征，结合粒子群优化算法，并引入基于密度函数的有效半径，改进了传统FCM算法，提升算法对于初始化聚类中心的鲁棒性，避免陷入局部极优，并很好地过滤干扰数据，从而实现对批量数据进行聚类，之后仅需对聚类中心特征向量进行缺陷检测，根据隶属度关系即可得到所有待测曲线的缺陷类型，其中包含了本发明提出的改进的模糊传递闭包聚类算法，定义模糊相似矩阵，保证了相似计算的准确性，本发明为晶体检测技术提供了全新的思路和实现方式。
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公开(公告)号：CN109034262A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201810915378.2
申请日：2018-08-13
Applicant: 东北大学
CPC classification number: G06K9/6218 , G01N23/20
Abstract: 本发明提出一种X射线定向仪缺陷识别的批量处理方法，属于单晶材料加工领域，提出了离线批量式单晶晶体缺陷检测方法，设计了单晶晶体回摆曲线的特征向量，以抽象出曲线特征，结合粒子群优化算法，并引入基于密度函数的有效半径，改进了传统FCM算法，提升算法对于初始化聚类中心的鲁棒性，避免陷入局部极优，并很好地过滤干扰数据，从而实现对批量数据进行聚类，之后仅需对聚类中心特征向量进行缺陷检测，根据隶属度关系即可得到所有待测曲线的缺陷类型，其中包含了本发明提出的改进的模糊传递闭包聚类算法，定义模糊相似矩阵，保证了相似计算的准确性，本发明为晶体检测技术提供了全新的思路和实现方式。
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