一种胶囊头缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN105092589A

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201510411699.5

    申请日:2015-07-07

    Applicant: 东北大学

    Abstract: 本发明公开了一种胶囊头缺陷检测方法,该方法利用胶囊头上反射的环形光斑的形状判断胶囊头是否存在缺陷。首先对图像进行二值化,提取光斑区域的二值图像,然后采用椭圆拟合所得二值图像的边界,计算误差点数量以及相应的周长和面积等特征来判别胶囊头部是否有缺陷。本发明提出的胶囊头缺陷检测方法算法简便,检测准确率高。

    一种胶囊头缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN105092589B

    公开(公告)日:2018-08-03

    申请号:CN201510411699.5

    申请日:2015-07-07

    Applicant: 东北大学

    Abstract: 本发明公开了种胶囊头缺陷检测方法,该方法利用胶囊头上反射的环形光斑的形状判断胶囊头是否存在缺陷。首先对图像进行二值化,提取光斑区域的二值图像,然后采用椭圆拟合所得二值图像的边界,计算误差点数量以及相应的周长和面积等特征来判别胶囊头部是否有缺陷。本发明提出的胶囊头缺陷检测方法算法简便,检测准确率高。

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