微粒测定装置及其测定方法

    公开(公告)号:CN1120668A

    公开(公告)日:1996-04-17

    申请号:CN95106018.X

    申请日:1995-05-08

    Inventor: 荻野真一

    CPC classification number: G01N15/1245

    Abstract: 本发明提供一种能简化滑板的替换容易且迅速地将贯通孔配置在测定位置,同时具有较高的测定精度的、采用阻抗变化检测法的微粒测定装置及其测定工艺。微粒测定装置1包括之间试样容器2滑板3和一对电极4a、4b,带有滑板装在容器之间,上面设有可使试样悬浮液通过的检测孔。通过驱动装置7的驱动,使检测孔8-11中的一个孔移到位于与连通孔2c、2d相对应的位置上时,测定并分析粒径的分布。

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