粒子分析装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1163402A

    公开(公告)日:1997-10-29

    申请号:CN97104583.6

    申请日:1997-04-02

    CPC classification number: G01N15/1459 G01N15/1463

    Abstract: 粒子分析装置,它包括将含有粒子的试样变换为试样流的包被流槽、以连续光照明试样流的第一光源、将检测出的来自为第一光源所照明的粒子的光变换为表示粒子特征的粒子信号的光探测元件、以瞬时光照明试样流的第二光源、对第二光源照明的粒子摄像以获得粒子图像的摄像机、将粒子信号和粒子图像作为粒子分析用数据进行粒子分析的分析部,后者设有禁止部,能使第二光源发光时求得的光探测元件的粒子信号不作为粒子分析用数据。

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