公开(公告)号：CN100375157C

公开(公告)日：2008-03-12

申请号：CN200480003780.X

申请日：2004-02-04

Applicant: 东丽株式会社

Inventor： 小野雅章 ,  深田一吉 ,  八木正博

IPC: G11B5/73

CPC classification number: B32B27/36 ,  B32B15/09 ,  B32B2307/208 ,  B32B2367/00 ,  B32B2429/02 ,  C08J7/047 ,  C08J2367/02 ,  G11B5/733 ,  Y10T428/24405

Abstract: 一种记录介质用聚酯薄膜，是在聚酯薄膜的单侧表面上形成含有粒径5～60nm的微粒子和有机化合物的被膜而成的记录介质用聚酯薄膜，存在于被膜表面的微细表面突起的个数是300万～1亿个/mm2，高度120nm以上的薄膜内杂质引起的表面缺陷是30个/100cm2以下，且聚酯含有实质上不具有粒径的钛化合物。本发明可提供信号失落少且耐久性优良数字数据记录用的磁记录带和适于作为基膜的聚酯薄膜。

公开(公告)号：CN1748252A

公开(公告)日：2006-03-15

申请号：CN200480003780.X

申请日：2004-02-04

Applicant: 东丽株式会社

Inventor： 小野雅章 ,  深田一吉 ,  八木正博

IPC: G11B5/73

CPC classification number: B32B27/36 ,  B32B15/09 ,  B32B2307/208 ,  B32B2367/00 ,  B32B2429/02 ,  C08J7/047 ,  C08J2367/02 ,  G11B5/733 ,  Y10T428/24405

Abstract: 一种记录介质用聚酯薄膜，是在聚酯薄膜的单侧表面上形成含有粒径5～60nm的微粒子和有机化合物的被膜而成的记录介质用聚酯薄膜，存在于被膜表面的微细表面突起的个数是300万～1亿个/mm2，高度120nm以上的薄膜内杂质引起的表面缺陷是30个/100cm2以下，且聚酯含有实质上不具有粒径的钛化合物。本发明可提供信号失落少且耐久性优良数字数据记录用的磁记录带和适于作为基膜的聚酯薄膜。