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公开(公告)号：CN114245049B
公开(公告)日：2024-03-05
申请号：CN202111614096.7
申请日：2021-12-27
Applicant: 上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司 , 上海集成电路研发中心有限公司
Abstract: 本发明提供了一种图像传感器、图像输出方法、设备及介质，所述图像传感器包括：所述像素阵列用于将所述光信号转化为模拟电信号；所述ADC组用于将所述模拟电信号转化为第一数字信号；所述数据输出选择器连接所述事件传感器，用以获取地址信息；所述数据输出选择器还连接有所述ADC组，用以获取所述第一数字信号；所述数据输出选择器用于输出所述第一数字信号对应在所述地址信息上的第二数字信号；所述图像输出模块根据所述第二数字信号输出图像。本发明通过所述数据输出选择器输出所述第一数字信号对应在所述地址信息上的第二数字信号，减少了数据传输量，使得在高速拍摄应用场景下，高速接口的速度可以满足图像的帧率的需求。
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公开(公告)号：CN111146104B
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN201911197188.2
申请日：2019-11-29
Applicant: 上海集成电路研发中心有限公司
Abstract: 本发明公开了一种关键尺寸误差分析方法，包括如下步骤：S01：对晶圆进行光刻，分别测量每个场中N个测试点的关键尺寸值CD；S02：清洗关键尺寸异常值；S03：基于重建模型拟合方法对剩余的关键尺寸值进行重建，得到重建之后的关键尺寸值CD”，将剩余的关键尺寸值划分为A个场景；S04：基于参数估计的方法计算每个场景中各个测试点在校正模型对应的参考系下的分量以及相应的残差；S05：根据上述计算结果，采用校正模型修改机台参数和掩模版。本发明提供的一种关键尺寸误差分析方法，利用外限估计清洗异常值，可快速准确地分析出光刻过程中关键尺寸误差。
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公开(公告)号：CN114245048B
公开(公告)日：2023-07-25
申请号：CN202111614088.2
申请日：2021-12-27
Applicant: 上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司 , 上海集成电路研发中心有限公司
Abstract: 本发明提供了一种信号传输电路及图像传感器，所述信号传输电路，包括：比较模块比较第一模拟信号和第二模拟信号，以生成比较结果；仲裁模块根据所述比较结果确定第三模拟信号，所述第三模拟信号为所述第一模拟信号相对于所述第二模拟信号中发生变化的部分，所述仲裁模块控制所述地址模块输出所述第三模拟信号的地址信息，并控制所述传输模块将所述第三模拟信号传输至ADC模块；所述ADC模块将所述第三模拟信号转换为第一数字信号；信号编码模块对所述第一数字信号和所述地址信息进行编码，以获得编码信息，并输出所述编码信息。本发明通过根据变化的模拟信号生成图像，减少了信息传输量，以达到满足图像帧率的需求。
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公开(公告)号：CN114281149B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202111574885.2
申请日：2021-12-21
Applicant: 上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司 , 上海集成电路研发中心有限公司
IPC: G05F3/26
Abstract: 本发明提供了一种RRAM阵列求和运算电路及方法，所述RRAM阵列求和运算电路包括：电流输入单元，用于提供多路待运算电流；第一电流镜单元，与所述电流输入单元电连接，用于将所述多路待运算电流按照第一比例缩放后输出；第二电流镜单元，与所述第一电流镜单元电连接，用于将所述第一电流镜单元输出的电流按照第二比例缩放；第三电流镜单元，分别与所述第一电流镜单元和所述第二电流镜单元电连接，用于将所述第二电流镜单元输出的电流按照第三比例缩放后并维持；输出单元，与所述第二电流镜单元电连接，用于将所述第二电流镜单元的电流按照预设比例缩放后输出，本发明能够以较低的功耗完成多路阵列电流的加权求和，而且能够有效减小误差。
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公开(公告)号：CN109684931B
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN201811415929.5
申请日：2018-11-26
Applicant: 上海集成电路研发中心有限公司
Abstract: 本发明公开了一种基于色彩分通道的人脸识别方法，包括如下步骤：S1：人脸识别模型的训练以及不同色彩通道的频率归一化；S2：选取待识别的人脸图像和存储信息中的人脸图像，利用上述不同人脸特征的权重分别计算不同色彩通道中两幅人脸图像的相似度xB，xR，xG，将该相似度分别带入上述对应的相似度‑概率函数Nr，Ng，Nb中，得出相似度的最大概率max[Nr(xR)，Ng(xG)，Nb(xB)]，根据最大概率与阈值的关系，判断待识别的人脸图像与该存储信息中的图像是否为同一个人。本发明提供的一种基于色彩分通道的人脸识别方法，对于人脸识别中普遍存在的眼镜反光问题，提供了更为可靠和稳定的识别结果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109712086B
公开(公告)日：2023-06-02
申请号：CN201811508721.8
申请日：2018-12-11
Applicant: 上海集成电路研发中心有限公司
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明公开了一种高效的CMOS图像传感器片上去噪算法，包括：对含噪图像分别沿行和列方向进行图像平移，然后分别沿行和列方向进行分解、预测和更新，对得到的图像进行阈值处理，对得到的图像分别沿列和行方向进行更新，预测和合成，得到合成后的去噪图像，最后对合成后的去噪图像分别沿行和列方向进行图像反平移，得到更新后的合成去噪图像，对不同平移尺度下更新后的合成去噪图像进行求平均计算，得到最终的去噪图像。本发明可兼顾算法复杂度和去噪效果，易于在CMOS图像传感器片上实现。
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公开(公告)号：CN111464764B
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202010135841.9
申请日：2020-03-02
Applicant: 上海集成电路研发中心有限公司
Abstract: 本发明公开了一种基于忆阻器的图像传感器，包括像素芯片和运算芯片，所述像素芯片包括M行N列个像素单元，所述运算芯片包括选择单元和M行N列个运算单元，所述运算单元中包括C个并联的忆阻器；所述像素单元和运算单元一一对应，且所述像素单元的输出端连接所述运算单元的输入端，所述选择单元包括N‑1个开关，所述第n开关的两端分别连接第n列运算单元输出端和第n+1列运算单元输出端。本发明提供的一种基于忆阻器的图像传感器及其进行卷积运算的方法，将像素单元输出的模拟信号直接参与运算，省略了模数转换的过程，节省了图像传感器的功耗，并提高了图像传感器的运算效率。
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公开(公告)号：CN110346996B
公开(公告)日：2022-06-28
申请号：CN201910516220.2
申请日：2019-06-14
Applicant: 上海集成电路研发中心有限公司
Abstract: 本发明公开的一种局部抗强光的电致变色玻璃，自上而下依次包括衬底层Ⅰ、导电层Ⅰ、变色模块、光敏变阻层、导电层Ⅱ和衬底层Ⅱ，所述导电层Ⅰ、变色模块、光敏变阻层和导电层Ⅱ串联在控制电路中，当外界强光照射在所述电致变色玻璃上时，被强光照射区域的光敏变阻层电阻减小，从而使得被强光照射区域的变色模块电压增大，进而使得被强光照射区域变色模块变色，用于阻挡强光。本发明提供的一种局部抗强光的电致变色玻璃，结合变色模块的电光特性以及光敏变阻层的光电特性，设计出能够实现局部自动抑制强光的玻璃，用于对抗大光灯造成的局部强光干扰。
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公开(公告)号：CN114281149A
公开(公告)日：2022-04-05
申请号：CN202111574885.2
申请日：2021-12-21
Applicant: 上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司 , 上海集成电路研发中心有限公司
IPC: G05F3/26
Abstract: 本发明提供了一种RRAM阵列求和运算电路及方法，所述RRAM阵列求和运算电路包括：电流输入单元，用于提供多路待运算电流；第一电流镜单元，与所述电流输入单元电连接，用于将所述多路待运算电流按照第一比例缩放后输出；第二电流镜单元，与所述第一电流镜单元电连接，用于将所述第一电流镜单元输出的电流按照第二比例缩放；第三电流镜单元，分别与所述第一电流镜单元和所述第二电流镜单元电连接，用于将所述第二电流镜单元输出的电流按照第三比例缩放后并维持；输出单元，与所述第二电流镜单元电连接，用于将所述第二电流镜单元的电流按照预设比例缩放后输出，本发明能够以较低的功耗完成多路阵列电流的加权求和，而且能够有效减小误差。
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公开(公告)号：CN113759270A
公开(公告)日：2021-12-07
申请号：CN202111044300.6
申请日：2021-09-07
Applicant: 上海集成电路研发中心有限公司 , 成都微光集电科技有限公司
IPC: G01R31/40
Abstract: 本发明的电源检测电路包括：反馈取样单元，用于对电源电压采样并形成反馈电压；反馈取样单元包括电阻组件及为NMOS管的第一MOS管，第一MOS管用于通过自身处于导通区或截止区而实现电阻组件的阻值改变；开关单元，其包括为PMOS管的第二MOS管；比较器单元，其第四端外接一参考电压，第五端用于接收反馈电压；反相器单元；电源检测电路被配置为，基于比较器单元检测反馈电压大于参考电压，驱动第二MOS管工作在导通区，进而驱动第一MOS管工作在截止区。如此，可使反馈电压进一步增大，从而调节第二MOS管的栅极电位，使输出电压不会受电源电压抖动，温度突变而产生毛刺，进而保证输出电压的稳定性以及电源检测电路的鲁棒性。
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