公开(公告)号：CN119438863A

公开(公告)日：2025-02-14

申请号：CN202411578706.6

申请日：2024-11-07

Applicant: 上海芯哲微电子科技股份有限公司

Inventor： 刘若智 ,  黄杰

IPC: G01R31/28 ,  G01R1/073

Abstract: 本发明属于晶圆测试设备技术领域，具体涉及一种8x8红外热电堆晶圆级参数自动探针测试系统，包括探针台和安装设于探针台上的测试机接线盒，所述探针台一侧设有测试机，所述测试机与测试机接线盒电性连接，所述探针台中心位置设有晶圆放置区，所述晶圆放置区上方设有用于测试晶圆的探针卡，所述探针卡可拆卸安装于探针台上，本发明可同时四工位电参数并行测试，采样数据接口标准统一，可以对红外热电堆多参数，比如工作时钟、参考基准电压、休眠功耗、工作电流，同时进行测试，提升生产UPH效率。

公开(公告)号：CN217901840U

公开(公告)日：2022-11-25

申请号：CN202222016948.9

申请日：2022-08-02

Applicant: 上海芯哲微电子科技股份有限公司

Inventor： 刘若智 ,  黄杰

IPC: G01R1/04 ,  G01R31/28

Abstract: 本实用新型属于集成电路测试验证夹具技术领域，具体涉及一种DBU8隔离器手动测试验证夹具，包括测试夹具和验证夹具，所述测试夹具设于验证夹具上，所述测试夹具包括测试夹具上盖和测试夹具下盖，所述测试夹具下盖的中部表面设有机测金手指，所述机测金手指的一侧设有探针，所述探针位于测试夹具下盖上，所述测试夹具上盖中部表面上设有防碰伤绝缘垫，所述验证夹具包括验证夹具上盖、验证夹具下盖和PCB板，所述验证夹具上盖和验证夹具下盖均与测试板可拆卸连接，所述PCB板一侧设有测试机连接器，所述PCB板上设有插件继电器、BNC接结端子和SIP继电器，本实用新型方便开合，易于与被测器件表面充分接触，测试数据更准确，且内部器件易于安装并方便维修更换。