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公开(公告)号：CN115639452A
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN202211196275.8
申请日：2022-09-28
Applicant: 上海航天电子通讯设备研究所
IPC: G01R31/26 , G01R31/265
Abstract: 本发明提供了一种用于VDMOS器件单粒子效应测试的自闭环系统，包括程控计算机、中转计算机、程控电源、抗辐照电路板以及微安表；程控计算机，用于控制操作中转计算机；中转计算机，用于驱动控制器转发遥控指令；抗辐照电路板，用于接收遥控指令并根据遥控指令产生0C脉冲，通过0C脉冲控制磁保持继电器阵列通断，利用磁保持继电器阵列及程控电源实现多组VDMOS器件的栅源、漏源分压；微安表，用于当将抗辐照电路板上各VDMOS器件进行单粒子照射时，检测VDMOS器件的漏源电流，漏源电流用于判断DMOS器件在单粒子作用下失效与否。本发明实现了对各类VDMOS器件单粒子效应快速测试功能，整个测试系统可实现不同工况下，不同类型VDMOS器件的测试覆盖性。
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