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公开(公告)号：CN110764153A
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201911120984.6
申请日：2019-11-15
Applicant: 上海航天测控通信研究所
Abstract: 本发明提供了一种星载微波成像仪热镜背瓣在轨误差校正系统及方法，所述方法包括：S1：所述热镜相关参数模块向所述热镜背瓣指向位置获取模块、地球辐射量获取模块、热镜背瓣误差获取模块提供参数；S2：所述热镜背瓣指向位置获取模块依据前述参数获得所述热镜背瓣指向位置，并将所述位置传输给所述地球辐射量获取模块；S3：所述地球辐射量获取模块依据前述参数及位置，获取热镜背瓣指向位置所对应的地球辐射量，并将所述地球辐射量传给所述热镜背瓣误差获取模块；S4：所述热镜背瓣误差获取模块依据前述参数和地球辐射量，获得热镜背瓣误差。本发明可以有效而精准地获得星载微波成像仪在轨的热镜背瓣误差，科学合理，易于实现。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110764153B
公开(公告)日：2021-06-08
申请号：CN201911120984.6
申请日：2019-11-15
Applicant: 上海航天测控通信研究所
Abstract: 本发明提供了一种星载微波成像仪热镜背瓣在轨误差校正系统及方法，所述方法包括：S1：所述热镜相关参数模块向所述热镜背瓣指向位置获取模块、地球辐射量获取模块、热镜背瓣误差获取模块提供参数；S2：所述热镜背瓣指向位置获取模块依据前述参数获得所述热镜背瓣指向位置，并将所述位置传输给所述地球辐射量获取模块；S3：所述地球辐射量获取模块依据前述参数及位置，获取热镜背瓣指向位置所对应的地球辐射量，并将所述地球辐射量传给所述热镜背瓣误差获取模块；S4：所述热镜背瓣误差获取模块依据前述参数和地球辐射量，获得热镜背瓣误差。本发明可以有效而精准地获得星载微波成像仪在轨的热镜背瓣误差，科学合理，易于实现。
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公开(公告)号：CN112345850A
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN202011174677.9
申请日：2020-10-28
Applicant: 上海航天测控通信研究所
Abstract: 一种星载微波成像仪在轨灵敏度确定方法，包括如下步骤：S1：获取星载微波成像仪的热源观测数据，热源观测数据包括星载微波成像仪的增益数据和热定标源观测电压，增益数据与热定标源观测电压一一对应；S2：基于正态分布的3σ准则对增益数据和热定标源观测电压分别进行质量控制，得到增益优化数据和热定标源观测优化电压；S3：基于增益优化数据和热定标源观测优化电压进行Allan标准差计算，得到星载微波成像仪的在轨灵敏度。由于Allan标准差计算方法可以表征观测数据与观测数据之间的偏离程度，所以Allan标准差可以代表系统噪声导致的观测数据短时波动情况，准确计算星载微波成像仪的在轨灵敏度，提高气象卫星测量精准性，进而提升天基气候系统监测能力。
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公开(公告)号：CN110456388B
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN201910869845.7
申请日：2019-09-16
Applicant: 上海航天测控通信研究所
Abstract: 本发明提供了一种星载GNSS‑R海面高度要素定标装置及方法，所述方法包括：S1：计算GNSS直射信号在海面进行镜面反射的反射点位置；S2：计算GNSS反射信号与直射信号的延迟差ρsignal，以此作为海面高度的初步计算结果；S3：计算GNSS信号在传播中的电离层延迟误差ρion；S4：计算GNSS信号在传播中的对流层延迟误差ρtro；S5：计算天线位置误差ρant和天线高度差Hant；S6：根据步骤S1‑S5计算出的数据，来计算镜面反射点所在位置的海面的高度H，所述海面高度为海面到地球椭球面的绝对高度。本发明可以更加准确地计算星载平台下GNSS‑R海面高度要素，提高其测高精度。
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公开(公告)号：CN110456388A
公开(公告)日：2019-11-15
申请号：CN201910869845.7
申请日：2019-09-16
Applicant: 上海航天测控通信研究所
Abstract: 本发明提供了一种星载GNSS-R海面高度要素定标装置及方法，所述方法包括：S1：计算GNSS直射信号在海面进行镜面反射的反射点位置；S2：计算GNSS反射信号与直射信号的延迟差ρsignal，以此作为海面高度的初步计算结果；S3：计算GNSS信号在传播中的电离层延迟误差ρion；S4：计算GNSS信号在传播中的对流层延迟误差ρtro；S5：计算天线位置误差ρant和天线高度差Hant；S6：根据步骤S1-S5计算出的数据，来计算镜面反射点所在位置的海面的高度H，所述海面高度为海面到地球椭球面的绝对高度。本发明可以更加准确地计算星载平台下GNSS-R海面高度要素，提高其测高精度。
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公开(公告)号：CN110174652A
公开(公告)日：2019-08-27
申请号：CN201910217430.1
申请日：2019-03-21
Applicant: 上海航天测控通信研究所
Abstract: 本发明公开了一种星载微波成像仪天线在轨发射率的定标方法及装置，该方法包括以下步骤：S1：获取微波成像仪的一观测区域在一观测时间段的观测辐射量，同时，根据辐射传输模型计算得到微波成像仪的观测区域在观测时间段的模拟辐射量；S2：根据观测辐射量和模拟辐射量，分别计算得到升轨单偏差值和降轨单偏差值；S3：根据升轨单偏差值和降轨单偏差值，计算得到升降轨双偏差值；S4：根据在升轨和降轨情况下天线的物理温度计算天线的物理温度差值，并根据升降轨双偏差值和物理温度差值，计算得到天线在轨发射率，以实现对微波成像仪天线在轨发射率的定标。本发明具有天线在轨发射率计算精准、简单高效的技术特点。
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