多通道的NAND FLASH差错控制方法

    公开(公告)号:CN113241110B

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202110509484.2

    申请日:2021-05-10

    Abstract: 本发明提供了一种多通道NAND FLASH差错控制方法,包括:对输入数据按通道数N进行分组后进行交织;将N通道的数据按通道进行异或生成校验数据;将校验数据和N组通道数据形成N+1组通道数据分别进行并行加扰;将N+1组数据分别进行BCH并行编码,数据按FLASH的页长进行分块,编码后存储在存储阵列中,存储阵列由N+1颗FLASH存储芯片组成,与N+1组数据一一对应;读取存储阵列中N+1组数,分别进行并行BCH译码,并给出译码“是否成功”状态;将N+1组数据分别进行并行解扰;根据译码“是否成功”状态,对N+1组数据进行容错控制;将完成差错控制的数据进行解交织恢复。本发明从抑制、纠错、替换三个维度采取设计措施降低了NAND FLASH的误码率。

    基于SRAM FPGA的星载抗单粒子效应加固方法

    公开(公告)号:CN113296820A

    公开(公告)日:2021-08-24

    申请号:CN202110682832.6

    申请日:2021-06-18

    Abstract: 本申请提供了一种基于SRAM FPGA的星载抗单粒子效应加固方法,所述方法包括以下步骤:S1、目标FPGA端建立SEM核,并创建串/并转换模块和SEM状态监测模块,生成配置程序文件;S2、反熔丝FPGA通过RS422接口接收和存储配置程序,将配置程序同时存入三个具有相同映射地址的配置区中;S3、通过反熔丝FPGA对目标FPGA进行加载,包括:分别从三个不同的配置区读取相同的数据,并进行比对;S4、反熔丝FPGA对SEM核进行监控,对发生单粒子翻转的数据帧进行替换。

    多通道的NAND FLASH差错控制方法

    公开(公告)号:CN113241110A

    公开(公告)日:2021-08-10

    申请号:CN202110509484.2

    申请日:2021-05-10

    Abstract: 本发明提供了一种基于BCH及类RAID技术的多通道NAND FLASH差错控制方法,包括:对输入数据按通道数N进行分组后进行交织;将N通道的数据按通道进行异或生成校验数据;将校验数据和N组通道数据形成N+1组通道数据分别进行并行加扰;将N+1组数据分别进行BCH并行编码,数据按FLASH的页长进行分块,编码后存储在存储阵列中,存储阵列由N+1颗FLASH存储芯片组成,与N+1组数据一一对应;读取存储阵列中N+1组数,分别进行并行BCH译码,并给出译码“是否成功”状态;将N+1组数据分别进行并行解扰;根据译码“是否成功”状态,对N+1组数据进行容错控制;将完成差错控制的数据进行解交织恢复。本发明从抑制、纠错、替换三个维度采取设计措施降低了NAND FLASH的误码率。

    基于SRAM FPGA的星载抗单粒子效应加固方法

    公开(公告)号:CN113296820B

    公开(公告)日:2023-01-24

    申请号:CN202110682832.6

    申请日:2021-06-18

    Abstract: 本申请提供了一种基于SRAM FPGA的星载抗单粒子效应加固方法,所述方法包括以下步骤:S1、目标FPGA端建立SEM核,并创建串/并转换模块和SEM状态监测模块,生成配置程序文件;S2、反熔丝FPGA通过RS422接口接收和存储配置程序,将配置程序同时存入三个具有相同映射地址的配置区中;S3、通过反熔丝FPGA对目标FPGA进行加载,包括:分别从三个不同的配置区读取相同的数据,并进行比对;S4、反熔丝FPGA对SEM核进行监控,对发生单粒子翻转的数据帧进行替换。

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