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公开(公告)号：CN114787871A
公开(公告)日：2022-07-22
申请号：CN202080085006.7
申请日：2020-09-27
Applicant: 上海联影医疗科技股份有限公司
Abstract: 本申请提供了一种用于病床位置校准的系统和方法。该方法可以包括获取病床在第一设备中一个或以上第一位置处的一张或以上第一图像，所述一张或以上第一图像中的每张第一图像对应于所述一个或以上第一位置中的一个第一位置，其中，所述病床包括标记物，所述标记物与所述第一设备的第一参考平面相交于至少两个第一交点；确定所述至少两个第一交点中的每个第一交点在所述一张或以上第一图像中的每张第一图像中呈现的第一位置；获取所述呈现的第一位置和所述至少两个第一交点中每个第一交点的实际位置之间的关联信息；以及基于所述关联信息和所述一张或以上第一图像，确定一张或以上校准图像。
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公开(公告)号：CN109431528B
公开(公告)日：2022-05-31
申请号：CN201811306943.1
申请日：2018-11-05
Applicant: 上海联影医疗科技股份有限公司
Abstract: 一种用于校正投影图像的方法，包括：获取受检对象的至少两个投影图像，所述至少两个投影图像根据CT扫描机在至少两个机架角获取的扫描数据生成，每个投影图像对应一个机架角。所述方法进一步包括：根据生成校正的投影图像的过程来校正所述至少两个投影图像的第一投影图像。所述生成校正的投影图像的过程包括：基于所述第一投影图像和所述至少两个投影图像的第二投影图像，对所述第一投影图像执行第一校正来生成初步校正的第一投影图像；以及基于所述初步校正的第一投影图像的至少一部分，对所述初步校正的第一投影图像执行第二校正来生成对应于第一机架角的校正的第一投影图像。
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公开(公告)号：CN113759412B
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202010495575.0
申请日：2020-06-03
Applicant: 上海联影医疗科技股份有限公司
Abstract: 本申请涉及一种获取束流形状和能量探测单元响应特征的方法、装置、计算机设备和存储介质，通过获取能量探测单元中预设的参考点的束流强度值和能量探测单元中每个像素点的信号强度值，然后根据参考点的束流强度值、每个像素点的信号强度值，以及根据能量探测单元与光束中心处于不同的相对位置处的亮场图像确定的且表示能量探测单元中不同像素点的束流强度之间关系的束流强度关系，确定每个像素点的束流强度值，进一步根据能量探测单元中每个像素点的束流强度值，计算得到能量探测单元中的束流形状，并基于束流形状确定能量探测单元响应特征，该方法能够更加准确地描绘束流形状及能量探测单元响应的特征。
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公开(公告)号：CN110075428B
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN201910547282.X
申请日：2019-06-24
Applicant: 上海联影医疗科技股份有限公司
Inventor： 杨宏成
IPC: A61N5/10
Abstract: 本发明提供了一种射束检验方法。该射束检验方法适于检验辐射设备的射束，所述辐射设备至少包括辐射源、准直器和与所述辐射源相对设置的成像装置，所述辐射源用于产生所述射束，所述准直器用于对所述射束限束，所述方法包括：基于所述成像装置在至少一个源像距获取的至少一张图像确定所述射束的射束轴和所述准直器的旋转轴在所述成像装置上投影之间的至少一个偏移距离；以及将所述至少一个偏移距离与预设值进行比较，确定所述至少一个偏移距离是否在预设值以内。本发明的射束检验方法能够快速、准确地对射束进行检验。
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公开(公告)号：CN113759412A
公开(公告)日：2021-12-07
申请号：CN202010495575.0
申请日：2020-06-03
Applicant: 上海联影医疗科技股份有限公司
Abstract: 本申请涉及一种获取束流形状和能量探测单元响应特征的方法、装置、计算机设备和存储介质，通过获取能量探测单元中预设的参考点的束流强度值和能量探测单元中每个像素点的信号强度值，然后根据参考点的束流强度值、每个像素点的信号强度值，以及根据能量探测单元与光束中心处于不同的相对位置处的亮场图像确定的且表示能量探测单元中不同像素点的束流强度之间关系的束流强度关系，确定每个像素点的束流强度值，进一步根据能量探测单元中每个像素点的束流强度值，计算得到能量探测单元中的束流形状，并基于束流形状确定能量探测单元响应特征，该方法能够更加准确地描绘束流形状及能量探测单元响应的特征。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107432750B
公开(公告)日：2020-11-10
申请号：CN201710640498.1
申请日：2017-07-31
Applicant: 上海联影医疗科技股份有限公司
Abstract: 本申请披露了一种用于校正医疗装置的系统及方法。该方法包括一个或多个下述操作。在成像装置的光源的多个角度，从成像装置处获取包含多个标记物的模体的投影数据。基于模体的投影数据和多个标记物在第一坐标系中的坐标，确定第一坐标系的多个投影矩阵以及第一坐标系和第二坐标系之间的转换矩阵。其中第一坐标系与模体相关，第二坐标系与成像装置相关。基于第一坐标系的多个投影矩阵和所确定的转换矩阵，确定第二坐标系的多个投影矩阵。
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公开(公告)号：CN116322902B
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202080104334.7
申请日：2020-08-20
Applicant: 上海联影医疗科技股份有限公司
IPC: A61N5/00
Abstract: 提供了用于图像配准的系统和方法。该方法可以包括获取包括目标体积的对象的参考图像(510)；基于参考图像确定与感兴趣区域(ROI)相关联的配准掩模(520)，该ROI包括目标体积的至少一部分；获取包括目标体积的对象的目标图像(530)；基于配准掩模对参考图像和目标图像进行图像配准(540)。
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公开(公告)号：CN113271862B
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN201980070873.0
申请日：2019-12-11
Applicant: 上海联影医疗科技股份有限公司
Abstract: 提供了放射治疗系统。放射治疗系统可以包括治疗组件、成像组件以及治疗床，该治疗床可以沿着第一坐标系中的第一方向在治疗组件和成像组件之间移动。治疗床可以具有垂直于第一方向的至少两个横截面。治疗床可以包括沿着第一方向延伸并且具有定位特征的定位线。定位特征可以具有至少两个特征值。每个特征值可以对应于至少两个横截面中的一个横截面。
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公开(公告)号：CN115564851A
公开(公告)日：2023-01-03
申请号：CN202211034204.8
申请日：2022-08-26
Applicant: 上海联影医疗科技股份有限公司
Inventor： 杨宏成
Abstract: 本申请涉及一种图像重建方法、装置和计算机设备。所述方法包括：获取目标部位的投影图像；根据与所述投影图像关联的第一层厚和第一图像矩阵，对所述投影图像进行重建，得到所述目标部位的初始重建图像；根据预设的第二层厚和第二图像矩阵，对所述初始重建图像进行处理，得到所述目标部位的目标重建图像；所述第二层厚大于所述第一层厚，所述第二图像矩阵的阶数不大于所述第一图像矩阵的阶数。采用本方法能够解决大层厚情况下细节丢失的问题。
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公开(公告)号：CN111588997B
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202010419645.4
申请日：2020-05-18
Applicant: 上海联影医疗科技股份有限公司
Abstract: 本发明实施例公开了一种散射量的确定方法、装置、设备和存储介质。所述方法包括：获取未放置扫描对象时，在多叶准直器收回状态采集的第一图像和在多叶准直器伸出状态采集的第二图像；获取放置扫描对象时，在所述多叶准直器伸出状态采集的第三图像和在所述多叶准直器收回状态采集的第四图像；确定用于进行散射校正的目标校正位点，以及所述目标校正位点在所述第一图像、所述第二图像、所述第三图像和所述第四图像中的灰度值；基于所述目标校正位点在各图像中的灰度值，确定在待校正图像中的所述目标校正位点的散射量；基于所述目标校正位点的散射量，确定所述待校正图像的散射量。以实现高精度确定散射量，对散射量进行校正的效果。
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