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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112557009A
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN202011388436.4
申请日：2020-12-01
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01M13/00 , G01R31/327 , G01R27/02 , G01R31/12
Abstract: 本发明提供了一种微动开关自动检测系统，由控制软件和设备硬件组成。系统的软件主要为测试程序及相关的操作界面程序；设备硬件通过模块化设计，具备可拆卸、再次柔性组合的特点，主要由行程测试装置、控制器、启动开关、接触电阻测试仪、耐压绝缘测试仪、测试机台和电气箱组成。本发明可以解决开关检测手动测试效率低下及综合参数无法单机测试问题，达到通过一台设备完成多类综合参数测试的目的，实现微动开关机械性能参数的自动测试，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN116660719A
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202310537407.7
申请日：2023-05-15
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例提供了一种基于FLEX测试系统的通用ATE接口子母板测试方法，其特征在于，所述接口子母板包括母板与子板，其中，所述母板基于ATE机台设计，下方采用弹簧针模块或连接器模式与ATE机台资源相连接，上方采用弹簧针模块或连接器方式与子板相连接，所述子板再与芯片连接；物理连接结构标准化设计，不同测试机台设计有不同的母板，所述母板将不同测试机台间相同性质的测试资源标准化集成在与子板的接口上，相同的资源相同的位置，在第一机台上使用资源的子板，则在第二机台上也在相同的接口位置连接到相同的资源，实现了接口子板在不同测试机台以及母板间的复用。
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公开(公告)号：CN111090039A
公开(公告)日：2020-05-01
申请号：CN201911081430.X
申请日：2019-11-07
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明实施例提供了一种FPGA功能测试装置，其特征在于，包括上位机和FPGA功能测试板；其中，上位机运行有上位机软件，用于配置FPGA，显示自测试结果；上位机上存储有用于FPGA功能测试的自测试程序；FPGA功能测试板上设置有接口芯片与待测的FPGA，所述接口芯片分别与上位机和待测的FPGA连接，用于接收由上位机传送的自测试程序，并将自测试程序配置至待测FPGA上，开启测试，并将FPGA的测试结果回传至上位机软件。
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公开(公告)号：CN105548859A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201510906021.4
申请日：2015-12-09
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/28 , G01R31/003
Abstract: 本发明公开了一种用于环境测试的测试设备及测试方法，本发明公开的用于环境测试的测试设备包括：设备板和转接板，所述设备板包括第一直插接口和第一线缆接口，所述转接板包括第二直插接口和第二线缆接口。本发明提供的方案可以用于严酷的环境测试。
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公开(公告)号：CN211979128U
公开(公告)日：2020-11-20
申请号：CN201921931515.8
申请日：2019-11-07
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01R31/317
Abstract: 本实用新型实施例提供了一种FPGA功能测试装置，其特征在于，包括上位机和FPGA功能测试板；其中，FPGA功能测试板上设置有接口芯片与待测的FPGA，所述接口芯片分别与上位机和待测的FPGA连接，上位机中存储的测试程序经接口芯片配置至待测FPGA，FPGA的测试结果经接口芯片回传至上位机。
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