公开(公告)号：CN109009065B

公开(公告)日：2021-11-19

申请号：CN201810568531.9

申请日：2018-06-05

Applicant: 上海理工大学

Inventor： 陈书行 ,  王胜峰 ,  钟秋婵 ,  唐詹 ,  高秀敏

IPC: A61B5/245

Abstract: 本发明涉及一种基于TMR弱磁传感器阵列的脑磁信息检测系统及方法，该系统由TMR弱磁传感器阵列检测模块和信号分析模块组成，该方法的步骤为：1)将带有TMR磁组传感器的圆锥形装配单元的磁阻传感器阵列结构安放在头部，形成脑磁传感层，由磁阻传感器阵列采集脑磁场信息；2）采用磁阻传感器阵列结构中TMR磁阻传感器产生的磁场方向相反的结构；3)由信号分析模块从TMR弱磁传感器阵列检测模块中磁阻元件的输出信号中提取奇次谐波，并对奇次谐波进行分析，再通过优化算法进行数据分析，从而准确的检测出脑磁信息。本发明具有简易的算法，实现方便，性能稳定，结果可靠、易于扩展、效益高的优点。

公开(公告)号：CN109009065A

公开(公告)日：2018-12-18

申请号：CN201810568531.9

申请日：2018-06-05

Applicant: 上海理工大学

Inventor： 陈书行 ,  王胜峰 ,  钟秋婵 ,  唐詹 ,  高秀敏

IPC: A61B5/04

CPC classification number: A61B5/04008

Abstract: 本发明涉及一种基于TMR弱磁传感器阵列的脑磁信息检测系统及方法，该系统由TMR弱磁传感器阵列检测模块和信号分析模块组成，该方法的步骤为：1)将带有TMR磁组传感器的圆锥形装配单元的磁阻传感器阵列结构安放在头部，形成脑磁传感层，由磁阻传感器阵列采集脑磁场信息；2）采用磁阻传感器阵列结构中TMR磁阻传感器产生的磁场方向相反的结构；3)由信号分析模块从TMR弱磁传感器阵列检测模块中磁阻元件的输出信号中提取奇次谐波，并对奇次谐波进行分析，再通过优化算法进行数据分析，从而准确的检测出脑磁信息。本发明具有简易的算法，实现方便，性能稳定，结果可靠、易于扩展、效益高的优点。

公开(公告)号：CN108051090B

公开(公告)日：2019-07-23

申请号：CN201711432890.3

申请日：2017-12-26

Applicant: 上海理工大学

Inventor： 陈书行 ,  高秀敏 ,  王胜峰 ,  钟秋蝉

IPC: G01J4/00

Abstract: 本发明涉及一种螺旋偏振光场的偏振参数检测系统，包括被检测光束导入模块、由光场振幅调制模块和光场波前相位调制模块组成的光场调制环节、光场分析模块、光场聚焦特性分析模块、偏振参数提取输出模块，将被检测光束的横向光强分布调制成空心高斯强度分布，把被检测光束的波前相位分布调制成径向余弦演化的相位分布，将调控过的螺旋偏振光场经过光学系统进行聚焦，利用光电探测器检测焦点区域轴上光强分布，利用矢量光场聚焦特性，根据焦点移动量计算出表征螺旋偏振光场整体偏振态分布分偏振参数具体数值，本发明具有方法简单、流程简洁、可以检测螺旋偏振光场、灵敏度高、可实现偏振态物理参数测量、灵活性强、功能易于扩充、抗干扰性强等特点。

公开(公告)号：CN109141642A

公开(公告)日：2019-01-04

申请号：CN201810979668.3

申请日：2018-08-27

Applicant: 上海理工大学

Inventor： 陈书行 ,  王胜峰 ,  钟秋婵 ,  高秀敏

IPC: G01J4/00

CPC classification number: G01J4/00

Abstract: 本发明涉及一种螺旋偏振光场的偏振参数检测方法，基于矢量光场聚焦原理，将振幅调制和相位调制相结合，将被检测光束的横向光强分布调制成空心高斯强度分布，把被检测光束的波前相位分布调制成径向余弦演化的相位分布，将调控过的螺旋偏振光场经过光学系统进行聚焦，利用光电探测器检测焦点区域轴上光强分布，利用矢量光场聚焦特性，根据焦点移动量计算出表征螺旋偏振光场整体偏振态分布分偏振参数具体数值。方法简单、流程简洁、可以检测螺旋偏振光场、灵敏度高、可实现偏振态物理参数测量、灵活性强、功能易于扩充、抗干扰性强等特点。

公开(公告)号：CN108051090A

公开(公告)日：2018-05-18

申请号：CN201711432890.3

申请日：2017-12-26

Applicant: 上海理工大学

Inventor： 陈书行 ,  高秀敏 ,  王胜峰 ,  钟秋蝉

IPC: G01J4/00

CPC classification number: G01J4/00

Abstract: 本发明涉及一种螺旋偏振光场的偏振参数检测系统，包括被检测光束导入模块、由光场振幅调制模块和光场波前相位调制模块组成的光场调制环节、光场分析模块、光场聚焦特性分析模块、偏振参数提取输出模块，将被检测光束的横向光强分布调制成空心高斯强度分布，把被检测光束的波前相位分布调制成径向余弦演化的相位分布，将调控过的螺旋偏振光场经过光学系统进行聚焦，利用光电探测器检测焦点区域轴上光强分布，利用矢量光场聚焦特性，根据焦点移动量计算出表征螺旋偏振光场整体偏振态分布分偏振参数具体数值，本发明具有方法简单、流程简洁、可以检测螺旋偏振光场、灵敏度高、可实现偏振态物理参数测量、灵活性强、功能易于扩充、抗干扰性强等特点。