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公开(公告)号：CN107909578A
公开(公告)日：2018-04-13
申请号：CN201711032913.1
申请日：2017-10-30
Applicant: 上海理工大学
Abstract: 本发明涉及一种基于六边形拼接算法的光场图像重聚焦方法，首先进行去背景处理，降低乃至消除传统重聚焦方法中产生的像差；选用六边形对放大后的宏像素中心进行复制，然后用复制图像进行重新拼接，再缩小，即可获得数字聚焦在某一深度位置的重聚焦图像。由于六边形的中心位置与各边缘位置的距离差别较小，有效避免选取到由于微透镜阵列中单个微透镜边缘位置所成的相差较大、质量较低的图像。没有传统算法中改变选取窗口尺寸是必须以单个像素为基本单位时造成的只能选取数个固定离散深度进行数字聚焦的现象。本发明方法实现在测量范围内任意深度位置连续数字聚焦，这使得光场相机进行测量时的深度分辨率与可测量的切面位置仅受测量系统的硬件限制。
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公开(公告)号：CN107024417A
公开(公告)日：2017-08-08
申请号：CN201710300730.7
申请日：2017-05-02
Applicant: 上海理工大学
CPC classification number: G01N15/0227 , G01P3/38
Abstract: 本发明涉及一种基于单镜头多光路光场成像的三维颗粒场测量装置及方法，光源设置在待测颗粒上方，直接或通过视窗照明待测颗粒，镜头设置在待测颗粒前方，镜头后面置有分光棱镜，用于将一束入射光分为两束线偏振光；分光棱镜的两个出射面一侧分别设置一个半波片，用来改变线偏振光的偏振角；每只半波片的出射面后分别设置一个分光棱镜，用于将两束入射光分为四束；两只分光棱镜的四个出射面后分别设置一个微透镜阵列，微透镜阵列后设置图像传感器，图像传感器连接计算机。本发明在保证空间分辨率的前提下，可以有效提升在颗粒光场测量中的深度分辨率和测量深度，不仅使得小空间颗粒测量的精度成倍提高，更使得光场测量技术在大空间颗粒测量中的应用成为可能。
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公开(公告)号：CN107726993B
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201711032930.5
申请日：2017-10-30
Applicant: 上海理工大学
Abstract: 本发明涉及一种基于光场图像宏像素最大梯度区域的颗粒深度测量方法，选取到颗粒边缘位置图像与相邻宏像素进行互相关计算，根据颗粒测量的特点对现在的测试方法进行了优化，在不增加测量系统复杂度的前提下，有效增加了应用光场相机对颗粒深度信息进行测量的结果的准确度和分辨率。同时，该方法计算简单、深度范围大、可在线实时测量、测量速度快、对测量环境要求低、自动化程度高，使得光场相机在颗粒三维位置测量领域中获得了较高的应用价值与研究意义。
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公开(公告)号：CN107726993A
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201711032930.5
申请日：2017-10-30
Applicant: 上海理工大学
Abstract: 本发明涉及一种基于光场图像宏像素最大梯度区域的颗粒深度测量方法，选取到颗粒边缘位置图像与相邻宏像素进行互相关计算，根据颗粒测量的特点对现在的测试方法进行了优化，在不增加测量系统复杂度的前提下，有效增加了应用光场相机对颗粒深度信息进行测量的结果的准确度和分辨率。同时，该方法计算简单、深度范围大、可在线实时测量、测量速度快、对测量环境要求低、自动化程度高，使得光场相机在颗粒三维位置测量领域中获得了较高的应用价值与研究意义。
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