公开(公告)号：CN104007074B

公开(公告)日：2016-03-23

申请号：CN201410224632.6

申请日：2014-05-26

Applicant: 上海理工大学

Inventor： 王玮 ,  易映萍 ,  王勇

IPC: G01N21/31

Abstract: 本发明提供的一种接收参考光束和通过样品的样品光束的入射从而对样品的吸光度进行检测分析的双光束分光光度计，具有这样的特征，包括：正交信号发生部；光电转换部；两个反光部；周期反馈部；电机；放大转换部；以及FPGA分析部，其中，第一预定序列光信号形成孔圈以第一预定序列排列的透光通孔来开通圆盘本体，第二预定序列光信号形成孔圈将与第一预定序列相正交形成第二预定序列，以该第二预定序列排列的透光通孔来开通圆盘本体，第三预定序列由参考光束或样品光束中任意一个通过透光通孔的第一数值和参考光束或样品光束均未通过透光通孔的第二数值相组合排列形成，FPGA分析部，包含：存储部；计算部；以及控制部。

公开(公告)号：CN104007074A

公开(公告)日：2014-08-27

申请号：CN201410224632.6

申请日：2014-05-26

Applicant: 上海理工大学

Inventor： 王玮 ,  易映萍 ,  王勇

IPC: G01N21/31

Abstract: 本发明提供的一种接收参考光束和通过样品的样品光束的入射从而对样品的吸光度进行检测分析的双光束分光光度计，具有这样的特征，包括：正交信号发生部；光电转换部；两个反光部；周期反馈部；电机；放大转换部；以及FPGA分析部，其中，第一预定序列光信号形成孔圈以第一预定序列排列的透光通孔来开通圆盘本体，第二预定序列光信号形成孔圈将与第一预定序列相正交形成第二预定序列，以该第二预定序列排列的透光通孔来开通圆盘本体，第三预定序列由参考光束或样品光束中任意一个通过透光通孔的第一数值和参考光束或样品光束均未通过透光通孔的第二数值相组合排列形成，FPGA分析部，包含：存储部；计算部；以及控制部。