公开(公告)号：CN118392354A

公开(公告)日：2024-07-26

申请号：CN202410518718.3

申请日：2024-04-28

Applicant: 上海仪器仪表自控系统检验测试所有限公司 ,  上海理工大学

Inventor： 宋延勇 ,  苏明旭 ,  郭爱华

IPC: G01K15/00

Abstract: 本发明涉及一种热电阻温度计响应时间测量方法，通过特定电压函数输入，给热电阻温度计加载斜坡激励，测量热电阻温度计在斜坡激励下的响应时间。该方法便于在温度计安装现场完成测试，避免了将温度计拆卸检测重新安装等过程可能造成的人因失误，是一种便于操作的原位测量方法，能够获得温度计在安装条件下的响应时间。其次，热电阻温度计的响应时间不仅和温度计本身的结构与材料有关，还取决于现场安装条件。长期使用可能导致热电阻温度计传热特性发生变化引起热电阻温度计响应时间性能的劣化。本发明作为一种原位测量方法，通过测量安装条件下的响应时间，能够有效的识别温度计安装异常和性能劣化。

公开(公告)号：CN116380733A

公开(公告)日：2023-07-04

申请号：CN202310380272.8

申请日：2023-04-11

Applicant: 上海理工大学

Inventor： 黄茜 ,  苏格毅 ,  宋延勇 ,  苏明旭

IPC: G01N15/02 ,  G01N21/41 ,  G01N21/49 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明涉及一种颗粒粒径和混合比测量方法、装置、电子设备及存储介质，包括：通过对混合有第一固体颗粒和第二固体颗粒的两相系统进行消光法测量获取对应的实验消光谱，第一固体颗粒和第二固体颗粒为两种不同类型的固体颗粒。通过计算获取第一固体颗粒和第二固体颗粒在光波作用下的消光系数。通过计算获取第一固体颗粒和第二固体颗粒的反照率，并判断对应光子是否被散射。若光子被散射，则获取光子发生散射时的散射角以及光子发生相邻两次散射之间的随机自由步长。根据光子的出射方向，通过计算获取混合有第一固体颗粒和第二固体颗粒的两相系统对应的理论消光谱。基于实验消光谱和理论消光谱获取目标函数，求解固体颗粒的粒径和混合数目比。

公开(公告)号：CN113701921A

公开(公告)日：2021-11-26

申请号：CN202111003422.0

申请日：2021-08-30

Applicant: 上海仪器仪表自控系统检验测试所有限公司 ,  上海理工大学

Inventor： 宋延勇 ,  苏明旭 ,  郭爱华

IPC: G01K15/00

Abstract: 本发明提供一种热电阻温度计自热指数测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1，将热电阻温度计接入电桥，参比电阻R1，电阻R2,以及可调电阻R3接入电路；步骤S2，给电桥提供低电压，使电流值达到I，调节R3使U1接近零；步骤S3，采集并记录电桥输出电压U1、R1两端的电压U2和R3的阻值；步骤S4，计算热电阻温度计在低电压下的阻值R、电流I和电功率P；步骤S5，给电桥提供高电压，电流值达到I'，采集并记录电桥输出电压U'1；步骤S6，记录参比电阻R1的电压U'2和热电阻温度计两端的电压U'3；步骤S7，计算热电阻温度计在高电压下的阻值R'、电流I'和电功率P'；步骤S8，计算出自热指数；步骤S9，重复多次并计算自热指数；步骤S10，将各次所得到的自热指数的平均值作为热电阻温度计自热指数。