Patent search ap:("上海无线电设备研究所") AND inv:"杨炳轲" Page 1

1.

发明公开
一种相控阵天线近场方向图多波位测试系统及方法审中-实审

公开(公告)号：CN119087055A

公开(公告)日：2024-12-06

申请号：CN202411192461.3

申请日：2024-08-28

Applicant: 上海无线电设备研究所

Inventor： 周起华 , 杨炳轲 , 高林星 , 翁孚达 , 刘庆波 , 邹波

IPC: G01R29/10

Abstract: 本发明公开了一种相控阵天线近场方向图多波位测试系统及方法，所述系统包括：近场方向图测试装置；天线指向测试装置，其与所述近场方向图测试装置连接，采集所述近场方向图测试装置输出的波位信息；天线指向模块，其分别与所述天线指向测试装置和所述相控阵天线连接，所述天线指向测试装置与天线指向模块进行通信；高精度二维目标模拟器装置，其与所述近场方向图测试装置连接，用于实现近场方向图多波位测试，本发明可以一次性对相控阵天线多个角度的方向图进行测试；通过多波位测试，软件设置完成后即可自动完成多个角度方向图测试，极大的提高了测试效率，节约了大量方向图测试时间。

Patent Agency Ranking