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公开(公告)号:CN109470351A
公开(公告)日:2019-03-15
申请号:CN201811341599.X
申请日:2018-11-12
IPC: G01G23/01
Abstract: 本发明公开了一种大质量比较仪砝码校准装置,涉及计量领域。包括:底座,所述底座上设有用于称量砝码的称量盘;支撑结构,设置于所述称量盘,所述支撑结构上设有支撑间隙,所述支撑间隙的宽度小于所述砝码的直径;加载框,可拆卸地连接于所述底座,所述加载框包括用于支撑所述砝码的加载台;当所述加载框设置在所述底座上时,所述加载台设置于所述支撑间隙内,所述加载台远离所述底座的一侧与所述底座之间的间距,小于所述支撑结构远离所述底座的一侧与所述底座之间的间距。本发明减小了加载框的对校准过程的影响,即减小了绝对误差产生的可能,增加了比较仪砝码校准时的准确度和稳定性。
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公开(公告)号:CN109470351B
公开(公告)日:2021-11-05
申请号:CN201811341599.X
申请日:2018-11-12
IPC: G01G23/01
Abstract: 本发明公开了一种大质量比较仪砝码校准装置,涉及计量领域。包括:底座,所述底座上设有用于称量砝码的称量盘;支撑结构,设置于所述称量盘,所述支撑结构上设有支撑间隙,所述支撑间隙的宽度小于所述砝码的直径;加载框,可拆卸地连接于所述底座,所述加载框包括用于支撑所述砝码的加载台;当所述加载框设置在所述底座上时,所述加载台设置于所述支撑间隙内,所述加载台远离所述底座的一侧与所述底座之间的间距,小于所述支撑结构远离所述底座的一侧与所述底座之间的间距。本发明减小了加载框的对校准过程的影响,即减小了绝对误差产生的可能,增加了比较仪砝码校准时的准确度和稳定性。
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公开(公告)号:CN209181900U
公开(公告)日:2019-07-30
申请号:CN201821856836.1
申请日:2018-11-12
IPC: G01G23/01
Abstract: 本实用新型公开了一种大质量比较仪砝码高精度校准装置,涉及计量领域。包括:底座,所述底座上设有用于称量砝码的称量盘;支撑结构,设置于所述称量盘,所述支撑结构上设有支撑间隙,所述支撑间隙的宽度小于所述砝码的直径;加载框,可拆卸地连接于所述底座,所述加载框包括用于支撑所述砝码的加载台;当所述加载框设置在所述底座上时,所述加载台设置于所述支撑间隙内,所述加载台远离所述底座的一侧与所述底座之间的间距,小于所述支撑结构远离所述底座的一侧与所述底座之间的间距。本实用新型减小了加载框的对校准过程的影响,即减小了绝对误差产生的可能,增加了比较仪砝码校准时的准确度和稳定性。
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