一种测定滤膜孔径及孔径分布的方法

    公开(公告)号:CN114904397B

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN202110181501.4

    申请日:2021-02-09

    Abstract: 本发明公开了一种测定滤膜孔径及孔径分布的方法,所述方法包括:选取一组具有不同直径且发射波长不相同的荧光小球作为基准物;对作为基准物的每种荧光小球作在其发射波长下的浓度与荧光强度标准曲线;将作为基准物的一组荧光小球均匀分散在水中,配制成每种荧光小球的质量浓度为C0的混合悬浮液;利用待测滤膜对配制的混合悬浮液进行一次性过滤,然后对得到的滤液进行荧光检测,并依据标准曲线计算出滤液中各种荧光小球的浓度Ct,再计算待测滤膜对每种荧光小球的截留率R;最后根据得到的一组荧光小球直径和截留率R,计算待测滤膜的孔径及孔径分布。本发明方法具有适用范围广、操作简单、测定周期短、检测损耗和检测成本低等优点。

    一种测定滤膜孔径及孔径分布的方法

    公开(公告)号:CN114904397A

    公开(公告)日:2022-08-16

    申请号:CN202110181501.4

    申请日:2021-02-09

    Abstract: 本发明公开了一种测定滤膜孔径及孔径分布的方法,所述方法包括:选取一组具有不同直径且发射波长不相同的荧光小球作为基准物;对作为基准物的每种荧光小球作在其发射波长下的浓度与荧光强度标准曲线;将作为基准物的一组荧光小球均匀分散在水中,配制成每种荧光小球的质量浓度为C0的混合悬浮液;利用待测滤膜对配制的混合悬浮液进行一次性过滤,然后对得到的滤液进行荧光检测,并依据标准曲线计算出滤液中各种荧光小球的浓度Ct,再计算待测滤膜对每种荧光小球的截留率R;最后根据得到的一组荧光小球直径和截留率R,计算待测滤膜的孔径及孔径分布。本发明方法具有适用范围广、操作简单、测定周期短、检测损耗和检测成本低等优点。

    一种实现碳化硅陶瓷膜孔径纯质调控的方法

    公开(公告)号:CN119569458A

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202311138559.6

    申请日:2023-09-05

    Abstract: 本发明公开了一种实现碳化硅陶瓷膜孔径纯质调控的方法,包括如下步骤:a)将碳化硅、羧甲基纤维素钠和分散剂加入水中,使球磨均匀后,得到喷涂浆料;b)将喷涂浆料喷涂至待调控的碳化硅陶瓷膜的表面,自然晾干后先在75~85℃下真空干燥2~5小时,然后放入高温炉中,于800~1200℃真空烧结1~3小时,再放入马弗炉中,于700~900℃氧化烧结25~45分钟。本发明所述方法能对碳化硅陶瓷膜的孔径实现纯质调控,不仅操作简单、成本低廉、易于实现规模化,而且对原膜的厚度影响较小,膜层牢固性好,对纯水的过滤通量仍然很高,使得碳化硅陶瓷膜在水处理中的应用价值得到显著提高。

    一种能用于膜蒸馏的碳化硅基疏水陶瓷膜的制备方法

    公开(公告)号:CN115845619A

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN202211596493.0

    申请日:2022-12-12

    Abstract: 本发明公开了一种能用于膜蒸馏的碳化硅基疏水陶瓷膜的制备方法,包括:a)先采用氧化烧结法在碳化硅支撑体上制备二氧化硅包覆的碳化硅膜层,得到由二氧化硅包覆的碳化硅膜层与碳化硅支撑体组成的碳化硅基陶瓷膜;b)然后采用接枝聚合法对制得的碳化硅基陶瓷膜进行疏水改性,得到能用于膜蒸馏的碳化硅基疏水陶瓷膜。实验证明:本发明不仅获得了具有优良疏水性的碳化硅基疏水陶瓷膜,而且耐摩擦、耐强酸、强碱和高热,稳定性和牢固性均得到出乎意料地提高,且膜蒸馏应用效果显著,有望应用于恶劣环境下的膜蒸馏中,应用价值显著。

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