-
公开(公告)号：CN110954000A
公开(公告)日：2020-04-03
申请号：CN201911313068.4
申请日：2019-12-18
Applicant: 上海工程技术大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明涉及一种冷表面结霜霜层高度的测量方法，包括以下步骤：(1)取一已知刻度与长度的定标尺，采用体视显微镜测得其图像，得到图像像素长度与实际尺寸的换算比例；(2)用同样测量条件的体视显微镜依次测得结霜前的冷表面试样和结霜后的冷表面试样的图像，分别得到对应图像中结霜前的冷表面试样的像素长度L0和结霜后的冷表面试样的像素长度L1，则L1-L0即为冷表面试样结霜双层的像素高度；(3)最后，将L1-L0用步骤(1)测得的换算比例换算后，则得到冷表面试样表面的霜层的实际高度。与现有技术相比，本发明测量过程中对待测样品的干扰较小，测量精度高，测量结果稳定等。
Search Results
1
records
(took 0.032 seconds)
筛选
AND
AND
过滤
NOT
NOT
Scan to Join
