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公开(公告)号：CN204514471U
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：CN201520237094.4
申请日：2015-04-17
Applicant: 上海工程技术大学
IPC: G01J1/44
Abstract: 本实用新型公开了一种光照强度检测装置，其包括嵌入式单片机和至少一个光照强度检测模块，且所述的光照强度检测模块的输出端与嵌入式单片机的输入端相连接；所述的光照强度检测模块具有如下电路结构：包括晶体三极管Q1和Q2、偏置电阻R1和R2及光敏电阻R，其中晶体三极管Q1和偏置电阻R2依次串接在电源的正负极之间，同时偏置电阻R1、晶体三极管Q2和光敏电阻R也依次串接在电源正负极之间，且晶体三极管Q1的基极与晶体三极管Q2的发射极相连接、晶体三极管Q1的集电极与晶体三极管Q2的基极相连接。本实用新型具有成本低、可靠性好、体积小、灵敏度高、反应速度快、光谱特性好、受外界干扰小、性价比高、实用性强等诸多优点。
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