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公开(公告)号：CN115389923A
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN202211035037.9
申请日：2022-08-26
Applicant: 上海大学
IPC: G01R31/327
Abstract: 本发明涉及一种功率开关电路寄生参数测试方法、系统、电子设备及介质。该测试方法包括：对功率开关主回路进行建模，生成功率开关主回路模型；驱动功率开关主回路中开关管，测量开关管开通及关断过程中开关管两端的第一电压波形曲线；分析电压波形曲线中电压尖峰带来的震荡波形，确定震荡波形的幅值和周期，并根据幅值和周期确定原始谐振频率；在开关管的两端并联电容，测量并联电容后的开关管两端的第二电压波形曲线，确定改变后的谐振频率；根据功率开关主回路模型、原始谐振频率和改变后的谐振频率，确定开关管的寄生输出电容值；根据寄生输出电容值确定功率开关主回路的寄生电感。本发明能够提高回路寄生参数测试准确度。
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