公开(公告)号：CN116669445A

公开(公告)日：2023-08-29

申请号：CN202310691356.3

申请日：2023-06-12

Applicant: 上海大学

Inventor： 林婧 ,  徐闰 ,  王文贞 ,  朱家杰 ,  王阳道 ,  闫昊 ,  牛强国 ,  李冬梅

IPC: H10K30/88 ,  H10K71/00 ,  H10K30/10

Abstract: 本发明公开了一种新型CH3NH3PbI3辐射探测器件钝化方法，包括以下步骤：对CH3NH3PbI3晶体进行抛光处理，获得表面平整光滑的CH3NH3PbI3晶体预处理件；对CH3NH3PbI3晶体预处理件制备成CH3NH3PbI3辐射探测器；将CH3NH3PbI3辐射探测器浸入钝化剂中，等钝化剂钝化晶体表面及四周无电极处，生成绝缘PbI2层，获得钝化后的CH3NH3PbI3辐射探测器；取出钝化后的CH3NH3PbI3辐射探测器，用清洗剂将绝缘PbI2层上的残余钝化剂清洗干净；用高纯氮气吹净CH3NH3PbI3辐射探测器表面及四周无电极处残余清洗剂。本发明的一种新型CH3NH3PbI3辐射探测器件钝化方法，通过钝化剂与CH3NH3PbI3晶体的反应，在CH3NH3PbI3晶体表面及四周无电极处生成了绝缘PbI2层，不破坏CH3NH3PbI3晶体表面蒸镀电极的同时消除了无电极处漏电流对CH3NH3PbI3晶体辐射探测器的影响，显著提高了辐射探测器性能。

公开(公告)号：CN118604671A

公开(公告)日：2024-09-06

申请号：CN202410587956.X

申请日：2024-05-13

Applicant: 上海大学

Inventor： 王豪 ,  徐闰 ,  曹港 ,  闫昊 ,  崔明浩 ,  唐方雄 ,  王林军

IPC: G01R31/52 ,  G01R19/145 ,  G01R1/073 ,  G01R15/04

Abstract: 本发明公开了一种像素型碲锌镉探测器漏电流测试治具及其使用方法，属于像素型碲锌镉探测器电学性能测试领域。本发明包括探针卡盘、第一弹簧探针、第一接触电极、沉金PAD、转接板、第二弹簧探针，探针卡盘中间位置设置测试线缆接口、第一探针固定孔、采集信号输出口，探针卡盘外围设置第二探针固定孔，测试线缆接口通过分压电路与第一探针固定孔、第二探针固定孔电连接，第一弹簧探针、第二弹簧探针分别安装在第一探针固定孔中、第二探针固定孔中，第一探针固定孔、第二探针固定孔通过信号采集电路与采集信号输出口电连接。本发明通过分压电路使测试治具在同一时间对碲锌镉探测器各像素点进行加压，提高测试效率，提升测试结果可靠性。