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公开(公告)号：CN108572187A
公开(公告)日：2018-09-25
申请号：CN201810292995.1
申请日：2018-04-03
Applicant: 上海大学
IPC: G01N23/2202 , G01N23/2251
Abstract: 本发明公开了一种基于扫描电镜的元素晶界偏析半定量方法，该方法包括样品制备、并在晶界处进行能谱分析，根据公示 得到晶界处的偏析量，其中在晶界处和晶粒内的偏析元素固溶值来分别定义 Nrb是参考元素的位密度，用软件Casino模拟蒙特卡洛电子轨迹可得到电子束斑直径d1，可以再根据公示 可以得到偏析元素在晶界处的化学宽度。本发明在扫描电镜的平台下实现了晶界偏析的半定量，还具有制样方便、操作相对容易等优点。本发明方法是通过扫描电镜在晶界上收集能谱，并从晶界能谱中扣除晶粒的贡献后，获得晶界处的化学成分信息，能广泛应用于材料表征技术领域。
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