利用ZnS纳米荧光探针测定奈韦拉平的方法

    公开(公告)号:CN102435592B

    公开(公告)日:2013-07-17

    申请号:CN201110344793.5

    申请日:2011-11-04

    Applicant: 上海大学

    Abstract: 本发明涉及一种利用巯基乙酸修饰的ZnS纳米颗粒作为纳米荧光探针对奈韦拉平的快速测定方法,属光分析检测技术领域。本发明主要是利用ZnS纳米荧光探针与待测物奈韦拉平发生作用后荧光强度发生变化,通过荧光光谱分析对奈韦拉平进行灵敏的定量分析测定。本发明的要点是通过优化温度、加入次序、pH值和反应时间这些实验条件,在最佳条件下将荧光探针应用于奈韦拉平的定量检测。本发明的测定过程具有简单、快速、灵敏、准确等特点。

    利用CdTe纳米荧光探针测定扑热息痛的方法

    公开(公告)号:CN102519921A

    公开(公告)日:2012-06-27

    申请号:CN201110357607.1

    申请日:2011-11-14

    Applicant: 上海大学

    Abstract: 本发明涉及一种利用L–半胱氨酸修饰的CdTe纳米粒子作为纳米荧光探针对扑热息痛的快速测定,属光分析检测技术领域。本发明主要是利用CdTe纳米荧光探针与待测物扑热息痛发生作用后荧光强度发生变化,通过荧光光谱分析对扑热息痛进行灵敏的定量分析测定。本发明的要点是通过优化pH、反应时间这些实验条件,在最佳条件下将荧光探针应用于扑热息痛的定量检测。本发明的测定过程具有简单、快速、灵敏、准确等特点。

    利用ZnS纳米荧光探针测定奈韦拉平的方法

    公开(公告)号:CN102435592A

    公开(公告)日:2012-05-02

    申请号:CN201110344793.5

    申请日:2011-11-04

    Applicant: 上海大学

    Abstract: 本发明涉及一种利用巯基乙酸修饰的ZnS纳米颗粒作为纳米荧光探针对奈韦拉平的快速测定方法,属光分析检测技术领域。本发明主要是利用ZnS纳米荧光探针与待测物奈韦拉平发生作用后荧光强度发生变化,通过荧光光谱分析对奈韦拉平进行灵敏的定量分析测定。本发明的要点是通过优化温度、加入次序、pH值和反应时间这些实验条件,在最佳条件下将荧光探针应用于奈韦拉平的定量检测。本发明的测定过程具有简单、快速、灵敏、准确等特点。

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