公开(公告)号：CN104931232A

公开(公告)日：2015-09-23

申请号：CN201510319939.9

申请日：2015-06-12

Applicant: 上海大学

Inventor： 王廷云 ,  黄怿 ,  陈莉 ,  柴赵璞 ,  郭强

IPC: G01M11/00

Abstract: 本发明公开了一种掺杂光纤Verdet常数的测试装置，包括ASE光源，准直器，起偏器，斩波器，透镜，光纤三轴位移台，螺线管，直流电源，检偏器，光电探测器，锁相放大器，计算机；待测掺杂光纤无需任何熔接，直接放入螺线管中心通道测试。本发明使用了斩波器和锁相放大器，可以有效抑制光路中的噪声，实现Verdet常数的准确测量。测试中无需多次调节检偏器角度，只要开关电流源并记录锁相放大器的读书即可。与传统的光纤Verdet常数测试装置相比，本发明无熔接损耗、抗噪性能好、灵敏度高、操作简单，适用于各类掺杂石英光纤或玻璃光纤Verdet常数的测定。

公开(公告)号：CN104932123A

公开(公告)日：2015-09-23

申请号：CN201510319936.5

申请日：2015-06-12

Applicant: 上海大学

Inventor： 王廷云 ,  柴赵璞 ,  宫仁祥 ,  黄怿 ,  陈黄超 ,  文建湘

IPC: G02F1/095

CPC classification number: G02F1/095

Abstract: 本发明涉及一种利用辐照技术提高光纤Verdet常数的方法，包括如下步骤：1）将一段长度的单模光纤均匀盘绕成直径10cm~20cm的圆环，放入容器中；2）将容器放入Co-60射线辐照场内进行辐照，在有氧条件下，辐照30~60分钟，总剂量在600~1200Gy；3）在静置2~6个小时后，对单模光纤进行Verdet常数测试，与未做辐照的光纤对比，得到Verdet常数提高0.3~0.5倍的单模光纤。本发明不涉及预制棒掺杂浓度控制等复杂工艺，成本低，操作简单，可以有效提高光纤的Verdet常数。