一种支持偏振复用的自相干检测系统及检测方法

    公开(公告)号:CN117792513A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202211187349.1

    申请日:2022-09-28

    Applicant: 上海大学

    Abstract: 本发明公开一种支持偏振复用的自相干检测系统与检测方法,其中,一种支持偏振复用的自相干检测系统包括:双偏振态IQ调制模块、偏振模块、本振模块、光耦合模块、光电探测模块、模数转换模块和数字处理模块,双偏振态IQ调制模块、光耦合模块、光电探测模块、模数转换模块和数字处理模块依次相连。本发明的支持偏振复用的自相干检测系统使用了偏振复用的方式,无需增加额外光电器件即可实现偏振复用信号的检测,有效提高光谱、光源功率的利用率,并且具有设备成本低、器件带宽需求小、计算复杂度低等优点。

    一种自相干检测系统及方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116318426A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202111470051.7

    申请日:2021-12-03

    Applicant: 上海大学

    Abstract: 本发明公开了一种自相干检测系统及方法,其中,一种自相干检测系统,包括IQ调制模块、偏振模块、本振模块、光耦合模块、光电探测模块、模数转换模块和数字处理模块,IQ调制模块、光耦合模块、光电探测模块、模数转换模块和数字处理模块依次连接。本发明的一种自相干检测系统及方法具有设备成本低、器件带宽需求小、计算复杂度低等优点。

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