-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105005190A
公开(公告)日：2015-10-28
申请号：CN201410790952.8
申请日：2014-12-19
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明涉及一种液晶空间光调制器正交组合全息显示方法和装置。本方法是根据真彩色3D物体的色彩信息和位相信息分别计算出水平观察方向间隔90°视角下3D物体的位相型全息图，并利用基于快速并行计算环境的位相型查表法(P-LUT)分别实现3D物体的水平方向和垂直方向的三基色分量的随机位相型全息图序列的快速计算。本装置通过液晶空间光调制器正交组合方式再现真彩色全息3D影像，并采用三基色分量位相全息图对相应波长的不可见激光进行调制，经过位相调制后携带真彩色3D物体正交视角下3D信息的不可见光束在真彩色荧光介质中实现双波长频率转换发光，从而获得真彩色全息3D影像所需的三基色成像光束，实现全息3D实像的空间立体承载和视角扩展。
-
公开(公告)号：CN103454073A
公开(公告)日：2013-12-18
申请号：CN201310397304.1
申请日：2013-09-04
Applicant: 上海大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于4F干涉系统测试空间光调制器调制性能的测试装置及方法。本装置包括激光器、偏振片、物镜、针孔、透镜、分光棱镜、反射式液晶空间光调制器、反射镜、两个傅里叶透镜、CCD相机和计算机。两个傅里叶透镜结合构成4F系统，并使空间光调制器的像素与CCD相机的像素一一对应。本发明除了能够测试空间光调制器的相位调制性能外，主要是能够测量空间光调制器的像素间相互串扰，对加载相位型给定的相位分布后SLM像素的实际相位调制量进行测量，分析实际调制量与理论值之间的偏差，并研究相应的矫正方法，以使SLM各像素实际调制量与理论值相符，从而改善全息光电再现像的质量。
-
公开(公告)号：CN103024417A
公开(公告)日：2013-04-03
申请号：CN201210570689.2
申请日：2012-12-26
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明公开了一种全视差立体成像方法，其步骤为：首先，采集方阵列二维视角图像，采用点阵合成法生成全视差像素；然后，合成正交柱透镜光栅；其次，拼接成全视差合成图像；最后，调节正交光栅位置将每一个全视差像素位于对应的光栅方格内合成为全视差立体图像。该方法裸眼自由立体显示法，避免了佩戴辅助设备的麻烦，另外该方法为全视差观察（既有水平视差又有垂直视差），而且用正交柱透镜光栅代替微透镜阵列节约了成本，能使光栅格的边缘与每一个全视差像素边缘对齐，避免莫尔条纹以及图像的串扰，实现多用户多角度观察到清晰立体图像。
-
公开(公告)号：CN103454073B
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201310397304.1
申请日：2013-09-04
Applicant: 上海大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于4F干涉系统测试空间光调制器调制性能的测试装置及方法。本装置包括激光器、偏振片、物镜、针孔、透镜、分光棱镜、反射式液晶空间光调制器、反射镜、两个傅里叶透镜、CCD相机和计算机。两个傅里叶透镜结合构成4F系统，并使空间光调制器的像素与CCD相机的像素一一对应。本发明除了能够测试空间光调制器的相位调制性能外，主要是能够测量空间光调制器的像素间相互串扰，对加载相位型给定的相位分布后SLM像素的实际相位调制量进行测量，分析实际调制量与理论值之间的偏差，并研究相应的矫正方法，以使SLM各像素实际调制量与理论值相符，从而改善全息光电再现像的质量。
-
公开(公告)号：CN105223795A
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN201510637022.3
申请日：2015-10-03
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明提出一种大幅面数字化全息打印装置和方法。本装置主要模块包括全视差全息体视图快速并行计算模块、基元图像加载和记录曝光控制模块、缩微成像镜头对焦控制模块、全视差全息图记录材料承载和精密快速定位模块。高配置计算机分别与自动对焦控制、短时曝光控制、二维精密移动平台连接，实现全息图片连续传输、光敏全息记录介质的移动、全息图分时曝光的控制；在CUDA架构下将全视差全息体视图的程序并行处理能够实现对大幅面全视差全息体视图的快速计算，本系统装置可以实现全视差真彩色全息体视图的数字化快速全息打印。
-
-
-
-
Search Results
5
records
(took 0.014 seconds)
