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公开(公告)号：CN108344379A
公开(公告)日：2018-07-31
申请号：CN201810062257.8
申请日：2018-01-23
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明涉及一种测量绝缘子截面轮廓形状及爬电距离的系统和方法，通过激光测距仪多位置多角度对绝缘子轮廓进行测量，获得绝缘子截面轮廓形状并计算出爬电距离。该系统结构部分由激光测量模块和绝缘子安装模块两部分组成，激光测量模块和绝缘子安装模块之间距离固定，激光测距仪和绝缘子可以进行独立旋转，同时激光测距仪可以左右移动，从而保证绝缘子截面轮廓能够被完整测量。测量完成后计算得到测点极坐标，通过坐标变换和插值得到在直角坐标系下截面轮廓线的离散点坐标从而计算爬电距离。本发明实现了对绝缘子爬电距离低成本的准确测量，弥补了以往方法成本高，或不能完整测量截面轮廓的缺陷。
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公开(公告)号：CN119164366A
公开(公告)日：2024-12-20
申请号：CN202411297149.0
申请日：2024-09-14
Applicant: 上海大学 , 上海航天电子通讯设备研究所
Abstract: 本申请公开了一种太空容器位姿测量装置、方法、设备、介质及产品，涉及三维位姿测量领域，该装置包括：图像拍摄装置、结构光发生装置和数据处理终端，结构光发生装置用于向待测太空容器发射多线和单线结构光，多线结构光与单线结构光相互垂直；图像拍摄装置用于拍摄受多线和单线结构光照射的待测太空容器图像，数据处理终端用于根据图像上各交点在像素坐标系下的坐标值得到各交点在图像拍摄装置坐标系下的坐标值；基于各交点在图像拍摄装置坐标系下的坐标值得到各光条对应的平面方程；根据各光条对应的平面方程和各点在像素坐标系下的坐标值得到待测太空容器的位姿。本申请可对太空容器的位姿进行实时测量，以实现对太空容器进行精准捕捉。
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公开(公告)号：CN108344379B
公开(公告)日：2019-12-06
申请号：CN201810062257.8
申请日：2018-01-23
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明涉及一种测量绝缘子截面轮廓形状及爬电距离的系统和方法，通过激光测距仪多位置多角度对绝缘子轮廓进行测量，获得绝缘子截面轮廓形状并计算出爬电距离。该系统结构部分由激光测量模块和绝缘子安装模块两部分组成，激光测量模块和绝缘子安装模块之间距离固定，激光测距仪和绝缘子可以进行独立旋转，同时激光测距仪可以左右移动，从而保证绝缘子截面轮廓能够被完整测量。测量完成后计算得到测点极坐标，通过坐标变换和插值得到在直角坐标系下截面轮廓线的离散点坐标从而计算爬电距离。本发明实现了对绝缘子爬电距离低成本的准确测量，弥补了以往方法成本高，或不能完整测量截面轮廓的缺陷。
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