公开(公告)号：CN104535302B

公开(公告)日：2017-03-15

申请号：CN201410823903.X

申请日：2014-12-26

Applicant: 上海大学

Inventor： 王驰 ,  许婷婷 ,  毕书博 ,  余琨 ,  杨雅雯

IPC: G01M11/02 ,  G01N21/41

Abstract: 本发明公开了一种自聚焦光纤聚焦常数g的测量装置及方法，本测试装置包括预处理光纤装置及测量光纤折射率装置。将盖玻片凝胶于样品腔底部开孔处中心，清洁样品腔并注入匹配液至充满。将裸光纤装入光纤夹具中，经切割、抛光处理后，装夹在夹持架中。推动光纤直到其端面与盖玻片接触。在计算机中设置自动对准和一维线性扫描方式，快速获取折射率分布轮廓图。根据测量装置检测的折射率分布轮廓图，提取纤芯内折射率数据，采用曲线拟合算法，实现对自聚焦光纤聚焦常数g和中心折射率n0的测量。

公开(公告)号：CN104535302A

公开(公告)日：2015-04-22

申请号：CN201410823903.X

申请日：2014-12-26

Applicant: 上海大学

Inventor： 王驰 ,  许婷婷 ,  毕书博 ,  余琨 ,  杨雅雯

IPC: G01M11/02 ,  G01N21/41

Abstract: 本发明公开了一种自聚焦光纤聚焦常数g的测量装置及方法，本测试装置包括预处理光纤装置及测量光纤折射率装置。将盖玻片凝胶于样品腔底部开孔处中心，清洁样品腔并注入匹配液至充满。将裸光纤装入光纤夹具中，经切割、抛光处理后，装夹在夹持架中。推动光纤直到其端面与盖玻片接触。在计算机中设置自动对准和一维线性扫描方式，快速获取折射率分布轮廓图。根据测量装置检测的折射率分布轮廓图，提取纤芯内折射率数据，采用曲线拟合算法，实现对自聚焦光纤聚焦常数g和中心折射率n0的测量。