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发明公开
电子集成化单机自动化测试系统、方法及介质无效

公开(公告)号：CN111123000A

公开(公告)日：2020-05-08

申请号：CN201911268115.8

申请日：2019-12-11

Applicant: 上海卫星工程研究所

Inventor： 宋文磊 , 陆一波 , 王文龙 , 孙奎 , 刘海记 , 王要磊

IPC: G01R31/00 , G01R31/01

Abstract: 本发明提供了一种电子集成化单机自动化测试系统，其特征在于，包括：程控电源模块：提供电源；CPCI工控机通用测试模块：实现PCI协议；总线接口模块：将各模块与总线进行连接；信号负载模块：为单机提供模拟量输出；信号转接模块：为单机提供遥控指令信号接口；单机调试模块：对单机进行调试；嵌入式计算机模块：实现并检测单机指令的状态，将不符合设定的指令显示在示波器上。本发明测试功能集成度高，通用性强，测试自动化程度高，极大提高测试效率，本发明可提供256路温度量、模拟量输出并可自动化切换，每一路可通过多个继电器对模拟量、温度量切换输出，并且相互自检不会形成干扰，有效节约了设备成本，降低了产品规模。

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