公开(公告)号：CN101833352A

公开(公告)日：2010-09-15

申请号：CN201010159179.7

申请日：2010-04-27

Applicant: 上海北京大学微电子研究院

Inventor： 张耀国 ,  何媛 ,  沈立 ,  程玉华

IPC: G05F3/30

Abstract: 本发明公开了高阶补偿带隙基准电压源，包括用于输出基准电压的输出支路，其特征在于，还包括用于充当电阻作用的接地电阻结构和高阶补偿电路，所述高阶补偿电路和输出支路并联，且均连接至接地电阻结构的电流输入端，接地电阻结构的电流输出端接地，以及所述高阶补偿电路用于在温度升高导致输出支路中电流减小时向接地电阻的电流输入端输入电流，这种结构无需依赖精确的工艺，适用很多种工艺，应用范围广泛，此外不会大幅度增加电路面积，另外本发明提供的高阶补偿带隙基准电压源的温度系数远远优于现有高阶补偿带隙基准电压源的温度系数。

公开(公告)号：CN102243261A

公开(公告)日：2011-11-16

申请号：CN201110079639.X

申请日：2011-03-30

Applicant: 上海北京大学微电子研究院

Inventor： 张耀国 ,  严凯 ,  程玉华

IPC: G01R19/00

Abstract: 本发明公开了一种新型的电流检测电路，与传统电流检测电路相比，特征在于在比较器，在分压电阻两端并联了两个电阻。采用这种方法，可以很大范围降低比较器输入端电压。从低压电流检测到低电压电流检测均将适用。此电路结构不仅适用于由分离元件构成的电路中，也适用于芯片中的电流检测。对于低压工艺的芯片，采用该技术可以检测高压电路中的电流。

公开(公告)号：CN102281033A

公开(公告)日：2011-12-14

申请号：CN201110080627.9

申请日：2011-03-30

Applicant: 上海北京大学微电子研究院

Inventor： 张耀国 ,  程玉华

IPC: H03B29/00

Abstract: 本发明公开了一种新型基于开关电容的采样技术，与传统的采样技术相比，该发明通过额外增加一个采样阶段的电容，大幅度降低采样过程中由于开关电阻引入的热噪声，该热噪声往往是电路精度的瓶颈，另一方面，该额外引入的采样电容并不会对开关电容的积分阶段产生影响。

公开(公告)号：CN101871962A

公开(公告)日：2010-10-27

申请号：CN201010186716.7

申请日：2010-05-27

Applicant: 上海北京大学微电子研究院

Inventor： 邹諠 ,  张耀国 ,  沈立 ,  程玉华

IPC: G01R19/165

Abstract: 本发明公开了电流检测方法及电路，以提高检测精度，所述方法包括步骤：获取检测电流；生成基准电流；根据所述检测电流及基准电流，判断检测电流是否达到预定值；该电路包括：检测电流获取模块，用于获取检测电流；基准电流生成模块，用于生成基准电流；检测模块，用于基于检测电流获取模块获取的检测电流及基于基准电流生成模块生成的基准电流，检测出检测电流是否达到预定值。

公开(公告)号：CN101868087A

公开(公告)日：2010-10-20

申请号：CN201010186661.X

申请日：2010-05-27

Applicant: 上海北京大学微电子研究院

Inventor： 沈立 ,  张耀国 ,  邹諠 ,  程玉华

IPC: H05B37/02

Abstract: 本发明提供了LED驱动芯片及LED电路，以防止现有LED驱动芯片过温会停止工作，导致安全事故等问题。所述LED驱动芯片包括误差放大器，还包括过温识别模块，用于识别出LED驱动芯片过温；电压控制模块，用于在过温识别模块识别出过温的情况下，将所述误差放大器同向输入端连接的原参考电压更换为新参考电压，所述新参考电压的电压值低于原参考电压的电压值。