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公开(公告)号:CN105097926A
公开(公告)日:2015-11-25
申请号:CN201410216642.5
申请日:2014-05-22
Applicant: 上海北京大学微电子研究院
IPC: H01L29/78 , H01L29/423 , H01L29/417
Abstract: 本发明提供了射频MOS管,以提高射频MOS管的工作速度及降低其射频MOS管栅极寄生电阻导致的噪声恶化以及可靠性;该射频MOS管包括:源极、漏极和栅极,衬底,所述栅极由子栅和连接子栅的侧栅构成,还包括连接源极及源端的源金属层、连接漏极及漏端的漏金属层和连接侧栅及栅输入端的侧栅金属层,其中源金属层覆盖并延伸出源极,其在有源区的投影与漏极和子栅无交叠;漏金属层覆盖并延伸出漏极,其在有源区的投影与源极和子栅无交叠;侧栅金属层覆盖并延伸出侧栅,其在有源区的投影与源极和漏极无交叠;以及源金属层、漏金属层及栅金属层中,由相同层金属形成的部分无交叉。
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公开(公告)号:CN102169895A
公开(公告)日:2011-08-31
申请号:CN201010113496.5
申请日:2010-02-25
Applicant: 上海北京大学微电子研究院
IPC: H01L29/78 , H01L29/417 , H01L29/423
Abstract: 本发明提供了射频MOS管,以提高射频MOS管的工作速度及降低其射频MOS管栅极寄生电阻导致的噪声恶化以及可靠性;该射频MOS管包括:源极、漏极和栅极,衬底,所述栅极由子栅和连接子栅的侧栅构成,还包括连接源极及源端的源金属层、连接漏极及漏端的漏金属层和连接侧栅及栅输入端的侧栅金属层,其中源金属层覆盖并延伸出源极,其在有源区的投影与漏极和子栅无交叠;漏金属层覆盖并延伸出漏极,其在有源区的投影与源极和子栅无交叠;侧栅金属层覆盖并延伸出侧栅,其在有源区的投影与源极和漏极无交叠;以及源金属层、漏金属层及栅金属层中,由相同层金属形成的部分无交叉。
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