用于特高频局部放电传感器检测的辅助装置

    公开(公告)号:CN211206562U

    公开(公告)日:2020-08-07

    申请号:CN201921041657.7

    申请日:2019-07-05

    Abstract: 本实用新型公开了一种用于特高频局部放电传感器检测的辅助装置,其包括:夹具组件,夹具组件包括:固定底座,其用于放置特高频局部放电传感器,固定底座上设有用以容置特高频局部放电传感器输出接头的孔洞;夹块组件,其与丝杆的一端端部连接;丝杆还与固定底座螺纹连接,丝杆的端部设有手柄,转动手柄以调节固定底座与夹块组件之间的间距;夹块组件包括至少一个夹块,夹块包括拼接在一起的第一L型夹块和第二L型夹块,第一L型夹块和第二L型夹块之间形成有丝杆孔,与该夹块连接的丝杆通过该丝杆孔实现与夹块的连接;夹块与固定底座之间还连接有与丝杆平行的导向销;连接件,其与固定底座连接;手柄,其与连接件连接。

    用于特高频局部放电传感器的信号耦合天线及传感器

    公开(公告)号:CN211043557U

    公开(公告)日:2020-07-17

    申请号:CN201921041778.1

    申请日:2019-07-05

    Abstract: 本实用新型公开了一种用于特高频局部放电传感器的信号耦合天线,其包括:圆锥形的绝缘载体,其采用绝缘材料制成;圆锥形的绝缘载体的外表面上螺旋缠绕有金属线,位于圆锥形的绝缘载体尖端的金属线的端部用于与外设的接头连接。此外,本实用新型还公开了一种新型的特高频局部放电传感器,其包括:一端开敞的金属壳体;上述的信号耦合天线,其设于金属壳体内;接头,其设于金属壳体上,接头与信号耦合天线的金属线连接。所述的信号耦合天线灵敏度高,特高频信号接收能力强,抗干扰性强。此外,所述的新型的特高频局部放电传感器便携性能良好,捆绑及拆解操作方便。

    一种GIL局部放电源定位方法和系统

    公开(公告)号:CN112147471A

    公开(公告)日:2020-12-29

    申请号:CN202011021401.7

    申请日:2020-09-25

    Abstract: 本发明公开了一种GIL局部放电源定位方法:(1)建立与实际GIL尺寸相同的仿真模型,构建局部放电仿真指纹库Ψ(2)采用自然邻域差值算法将上述Ψ扩展为ΨNNI(3)用第一采样率采集ΨNNI中仿真指纹,构建大范围低密度指纹库(4)构建纠错输出码‑多层感知器‑支持向量机模型,用上述指纹库对模型的纠错输出码‑多层感知器模块训练,使仿真指纹与局放源的初步位置匹配(5)由初步位置确定采样范围,用大于第一采样率的第二采样率采集采样范围中的仿真指纹,构建小范围高密度指纹库(6)用小范围高密度指纹库对模型中的支持向量机模块进行训练,使仿真指纹与局放源精确匹配(7)将实际GIL局放光学指纹输入到经过训练的模型中,得对应局放源精确位置。

    一种基于虚拟传感器的局部放电源定位方法

    公开(公告)号:CN113552450A

    公开(公告)日:2021-10-26

    申请号:CN202110765690.X

    申请日:2021-07-07

    Abstract: 本发明公开了一种基于虚拟传感器的局部放电源定位方法,其包括步骤:(1)构建光学局部放电仿真指纹库;(2)采构建自适应神经模糊推理系统算法网络,并采用光学局部放电仿真指纹库作为训练集对自适应神经模糊推理系统算法网络进行训练;(3)在局部放电实际检测时,设置A个实际光学传感器和B个虚拟光学传感器,其中将A个实际光学传感器采集的实测局部放电信号输入经过训练的自适应神经模糊推理系统算法网络中,以使其输出B个虚拟光学传感器的预测局部放电信号;(4)由实测局部放电信号和预测局部放电信号构建光学局部放电检测指纹;(5)将所述光学局部放电检测指纹与所述光学局部放电仿真指纹库进行匹配,以得到局部放电源的位置。

    一种GIL局部放电源定位方法和系统

    公开(公告)号:CN112147470A

    公开(公告)日:2020-12-29

    申请号:CN202011021369.2

    申请日:2020-09-25

    Abstract: 本发明公开了一种GIL局部放电源定位方法,包括步骤:(1)建立与实际GIL尺寸相同的仿真模型,并进行光学信号仿真,构建局部放电仿真指纹库Ψ(2)拟合出GIL中所有位置局部放电指纹,以将Ψ扩展为Ψ’(3)构建有若干个基分类器的Bagging‑KELM模型,用Bagging算法对扩展后光学局部放电仿真指纹库Ψ’进行重新采样,获得随机选择的若干个子指纹库,各子指纹库与个基分类器对应,采用各子指纹库对各基分类器进行训练,以使每一个基分类器均输出局部放电源位置坐标,Bagging‑KELM模型的输出为各基分类器输出局部放电源位置坐标的平均值(4)将实际检测的GIL局部放电光学指纹输入到经过训练的Bagging‑KELM模型中,得到实际局部放电源位置。此外,本发明还公开了一种GIL局部放电源定位系统。

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