一种等离子体调制器和电磁波矢量显微传感器

    公开(公告)号:CN113314852A

    公开(公告)日:2021-08-27

    申请号:CN202110571124.5

    申请日:2021-05-25

    Abstract: 本发明涉及一种等离子体调制器和电磁波矢量显微传感器,通过电磁特性可调媒质,如等离子体,及空间赋形器对来波的坡印廷矢量、能流密度散布进行波前调制,利用这样的单或多路调制器将来波引入天线,建立非相关的满秩矩阵,增加系统的观测自由度,将准平行电磁波幅度、相位、方位角、俯仰角等信息予以求解成像;大于或等于两路调制器使用时,结合调制器的空间距离可实现来波的三维成像,具备凝视、超分辨能力和超口径特征。与现有技术相比,本发明通过在现有天线上附加波前调制器件并配合反演算法,可直接应用于现有雷达、电子侦察、射电望远镜、通讯等系统,实现对来波的单一波束内凝视三维超分辨成像。

    五轴机床末端位姿动态精度测量装置及方法

    公开(公告)号:CN118875814A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202411071751.2

    申请日:2024-08-06

    Abstract: 本发明提供了一种五轴机床末端位姿动态精度测量装置及方法,所述测量装置包括测量头与标准球,所述测量头通过刀柄安装在机床主轴上,所述标准球安装在机床加工区上;所述测量头集成有姿态测量传感器与三个位移传感器,所述三个位移传感器用于与所述标准球接触。本发明通过集成了位移传感器与姿态测量传感器的测量头,在R‑test的基础上,增加了刀轴姿态测量功能,使得其不仅可以测量刀尖点位置,还可以反映刀轴的俯仰角、横滚角、航向角等刀轴姿态信息,从而增加了测量结果的准确性,能够实现C轴0到360°,A轴‑60°到60°的姿态测量范围。

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