-
公开(公告)号：CN119000795B
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202411126960.2
申请日：2024-08-16
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 本申请涉及绝缘聚合物材料电学性能测试技术领域，公开一种绝缘材料低载流子迁移率检测方法及装置，该方法包括：固定样品；在样品的两端施加三角波电压；利用X射线照射样品，以使样品内部产生载流子，产生的载流子在三角波电压的作用下移动；其中，X射线的照射过程与三角波电压的上升阶段重合；获取样品在三角波电压作用下的电流信号；基于所述电流信号计算出载流子的迁移率。本申请通过结合X射线激励和电压信号分析，实现对材料内部载流子行为的精准检测。
-
公开(公告)号：CN119023739B
公开(公告)日：2025-03-14
申请号：CN202411126647.9
申请日：2024-08-16
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 本发明涉及绝缘聚合物材料电学性能测试技术领域，公开一种绝缘聚合物载流子迁移率测试装置，该装置包括第一箱体、第二箱体、样品支架、X射线源、电压生成组件和电流检测组件；第二箱体设置于第一箱体内部，第二箱体内设置有分隔板，第二箱体内通过分隔板形成第一空间和第二空间；样品支架用于固定样品，样品支架设置于第一空间；X射线源设置于第二空间，用于产生并发射X射线照射样品，以激励样品内部产生载流子；电压生成组件与样品线连接，以向样品的两端施加三角波电压，使得样品内部产生的载流子移动；电流检测组件与样品连接，以采集样品因载流子移动而产生的电流信号。本发明可以准确的测量低迁移率绝缘聚合物材料的迁移率数值。
-
公开(公告)号：CN119023739A
公开(公告)日：2024-11-26
申请号：CN202411126647.9
申请日：2024-08-16
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 本发明涉及绝缘聚合物材料电学性能测试技术领域，公开一种绝缘聚合物载流子迁移率测试装置，该装置包括第一箱体、第二箱体、样品支架、X射线源、电压生成组件和电流检测组件；第二箱体设置于第一箱体内部，第二箱体内设置有分隔板，第二箱体内通过分隔板形成第一空间和第二空间；样品支架用于固定样品，样品支架设置于第一空间；X射线源设置于第二空间，用于产生并发射X射线照射样品，以激励样品内部产生载流子；电压生成组件与样品线连接，以向样品的两端施加三角波电压，使得样品内部产生的载流子移动；电流检测组件与样品连接，以采集样品因载流子移动而产生的电流信号。本发明可以准确的测量低迁移率绝缘聚合物材料的迁移率数值。
-
公开(公告)号：CN119000795A
公开(公告)日：2024-11-22
申请号：CN202411126960.2
申请日：2024-08-16
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 本申请涉及绝缘聚合物材料电学性能测试技术领域，公开一种绝缘材料低载流子迁移率检测方法及装置，该方法包括：固定样品；在样品的两端施加三角波电压；利用X射线照射样品，以使样品内部产生载流子，产生的载流子在三角波电压的作用下移动；其中，X射线的照射过程与三角波电压的上升阶段重合；获取样品在三角波电压作用下的电流信号；基于所述电流信号计算出载流子的迁移率。本申请通过结合X射线激励和电压信号分析，实现对材料内部载流子行为的精准检测。
-
-
-
Search Results
4
records
(took 0.025 seconds)
